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[2019年IEEE第八届先进光电子学与激光国际会议（CAOL） - 保加利亚索佐波尔（2019.9.6-2019.9.8）] 2019年IEEE第八届先进光电子学与激光国际会议（CAOL） - 弛豫过程对激光染料特性的影响

DOI：10.1109/caol46282.2019.9019438 出版年份：2019 更新时间：2025-09-23 15:19:57
摘要： 提出了一种基于过剩噪声因子F与增益M之间线性关系来精确测定雪崩光电二极管(APD)量子效率和初级光电流的方法。当非局域碰撞电离效应主导噪声与增益关系时，该新方法可用于准确比较现代APD设计的性能。
作者： William R. Clark，Ken Vaccaro，William D. Waters，Celine L. Gribbon，Brian D. Krejca
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研究概述 实验方案

研究目的

提出一种基于过剩噪声因子F与增益M之间线性关系来精确测定雪崩光电二极管(APD)量子效率和初级光电流的方法，并在非局域碰撞电离效应主导噪声与增益关系时比较现代APD设计的性能。

研究成果

新方法提供了一种更精确的途径来确定雪崩光电二极管（APD）的量子效率、增益和过剩噪声，主要基于测量得到的噪声、光电流和输入光功率参数，且无需依赖关于层厚度、吸收系数或通过抗反射涂层和镜面的光学透射与反射的假设。

研究不足

该方法特别适用于分析倍增层中存在显著非局域效应的雪崩光电二极管（APD）。文献中报道的部分APD尽管其倍增层应具有可观的的非局域效应，却似乎不符合公式(4)所描述的关系。

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