研究目的
设计和构建具有自供电能力的透明柔性钙钛矿光电探测器，采用低成本且结构兼容的钙钛矿SrVO3透明导电氧化物（TCO）薄膜。
研究成果
研究表明，钙钛矿型SrVO3透明导电氧化物（TCO）薄膜在弯曲后仍能保持优异的光学透明度和电导率性能，适用于构建透明、柔性且自供电的钙钛矿光电探测器。该光电探测器展现出高响应度、快速响应时间以及卓越的柔韧性和稳定性，表明SrVO3 TCO电极在下一代智能电子器件中具有应用潜力。
研究不足
该研究聚焦于SrVO3透明导电氧化物（TCO）薄膜的制备与表征及其在光电探测器中的应用。局限性在于薄膜生长及弯曲测试所采用的特定条件，可能无法涵盖所有可能的运行环境。
1：实验设计与方法选择：
通过脉冲激光沉积法在透明且柔性的云母衬底上生长了高质量的外延SrVO3薄膜。
2：样品选择与数据来源：
使用不同厚度的云母衬底SrVO3薄膜。
3：实验设备与材料清单：
配备KrF激光器的脉冲激光沉积系统（PLD）、X射线衍射仪（XRD）、透射电子显微镜（TEM）、原子力显微镜（AFM）、Keysight B2902A电学特性测试仪、SHIMADZU UV-3600 Plus光学特性测试仪。
4：实验流程与操作步骤：
SrVO3薄膜外延生长、晶体结构表征、微观结构分析、表面形貌观测、电学与光学性能测试、光电探测器器件制备及光电性能测量。
5：数据分析方法：
XRD、TEM、AFM数据分析、响应度计算及响应速度测量。
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获取完整内容-
X-ray diffraction
XRD
Panalytical Empyrean
Investigation of the crystalline nature of the films.
-
Transmission Electron Microscopy
TEM
FEI TALOS 200X
Investigation of the microstructure of the film.
-
oscilloscope
MSO58
Tektronix
Measurement of response speed.
-
pulsed laser deposition
PLD
Used for the epitaxial growth of SrVO3 films on mica substrates.
-
atomic force microscopy
AFM
Asylum Research MFP-3D-SA
Investigation of the surface morphology.
-
Keysight B2902A
Keysight
Measurement of transport properties.
-
SHIMADZU UV-3600 plus
SHIMADZU
Investigation of optical properties.
-
Keithley 4200
Keithley
Collection of time-dependent current (I-T) curves.
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