研究目的
通过研究DMLS工艺所得表面粗糙度、整体密度及其相关性来分析该工艺。
研究成果
研究表明，线粗糙度测量可为微调优化的DMLS工艺参数提供精确方法，间接考量最佳致密度。对应最大致密度与最小线粗糙度参数的能量密度，是表征最优工艺参数的指标。
研究不足
本研究仅限于Ti-6Al-4V粉末，未涉及其他材料。工艺参数范围由样品制备的可行性决定，可能无法涵盖工业应用中的所有可能情况。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用Ti-6Al-4V粉末，通过改变DMLS工艺参数和几何参数制备了150多个长方体试样。为所有试样定义并测量了两个线性粗糙度参数。
2：试样选择与数据来源：
试样在惰性氩气环境下使用EOS M290设备制备。
3：实验设备与材料清单：
包括GilSonic UltraSiever筛分机、Qualtech流量计、Qualtech振实密度仪、Bruker G-8伽利略系统、Bruker G-4伊卡洛斯系统、基恩士数字显微镜及梅特勒-托利多分析天平。
4：实验流程与操作步骤：
通过调整激光功率、扫描速度、层间距和构建高度制备试样，并进行表面粗糙度和致密分数测量。
5：数据分析方法：
采用双指数函数分析线性粗糙度参数和致密分数随DMLS工艺参数的变化规律。
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获取完整内容-
GilSonic UltraSiever
GA-8
GilSonic
Determining the powder size distribution following ASTM B214-16 standard
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Qualtech Flow Meter
Qualtech
Measuring flowability with stainless steel Hall funnel following ASTM B213-17 standard
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Qualtech Tap Density Meter
QPI-TDM1800
Qualtech
Measuring tap and apparent density following ASTM B527-15 and ASTM B212-17 standards
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Bruker G-8 Galileo
Bruker
Measuring the oxygen (O), nitrogen (N), and hydrogen (H) contents following the ASTM E1409-13 standard
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Bruker G-4 Icarus
Bruker
Measuring the total carbon (C) content in the powders following the ASTM E1941-16 standard
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EOS M290
EOS
Used for DMLS of the Ti-6Al-4 V samples under an inert argon atmosphere
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Keyence digital microscope
VHX-6000
Keyence
Measuring the roughness parameters
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Mettler Toledo analytical weight balance
ME104E
Mettler Toledo
Used for the fractional density measurements of the samples according to the ASTM B311?17 standard
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Archimedes density kit
ME-DNY-4
Mettler Toledo
Used for the fractional density measurements of the samples according to the ASTM B311?17 standard
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