研究目的
研究基于双量子点的电荷量子比特态测量量子芯片的设计与性能，重点通过三量子点对称构型提升测量灵敏度，并分析耗散过程的影响。
研究成果
该研究表明，采用具有优化隧穿结构的量子芯片来测量基于双量子点的电荷量子比特状态是可行的。非共振隧穿模式可提高测量灵敏度，而哈密顿量参数的对称性对实现最佳性能至关重要。然而，耗散过程（尤其是声子诱导的退相位效应）会显著影响测量质量。研究结果表明，通过精心设计量子点的形状和材料可以缓解这些影响，从而为构建可扩展的量子计算架构铺平道路。
研究不足
该研究属于理论性研究，依赖于数值模拟，可能无法完全捕捉现实系统中所有的物理细微差别。耗散过程（尤其是声子诱导的弛豫和退相位）的影响对维持相干性和测量精度构成了挑战。所提出的芯片设计在实际实施中，可能在制造具有精确几何和能量参数的量子点方面面临技术限制。
型号：ZEISS LSM 990 Spectral Multiplex
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