研究目的
研究以二萘并[2,3-b:2',3'-f]噻吩并[3,2-b']噻吩(DNNT)为活性半导体、旋涂聚苯乙烯为栅绝缘层的有机薄膜晶体管(OTFTs)的光响应特性。
研究成果
研究了以DNTT为半导体、聚苯乙烯为栅极绝缘体的OTFTs的光响应特性。在特定波长光照下获得的响应与器件短路后经光照处理再置于黑暗环境中的响应相似。所实现的最高响应度约1.6 A/W,虽高于聚合物栅极绝缘体上有机半导体此前报道的数值,但显著低于3.6 nm厚SAM处理AlOx薄膜上DNTT达到的约105 A/W响应度。这种差异源于所用器件的几何结构不同。研究结果明确揭示了(i)界面电子俘获和(ii)器件几何结构对光响应的决定性作用。
研究不足
我们设备的响应受限于DVT饱和现象,这是由于深界面电子陷阱密度远低于参考文献[9]中的数值(即约1011 cm?2对比约1013 cm?2)。此外,对脉冲辐射的动态响应表明:从准静态特性中提取的光敏度和光电响应值远高于动态测量所得结果,这归因于界面陷阱俘获与释放过程具有较长的时间常数。
1:实验设计与方法选择:
采用三层Kapton遮罩在聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)衬底上制备底栅顶接触结构的有机薄膜晶体管(OTFT)。通过第一层遮罩在PEN衬底上蒸镀铝栅电极,随后将聚苯乙烯甲苯溶液旋涂于铝电极并加热去除残余溶剂。使用第二层遮罩蒸镀60纳米厚的DNTT薄膜,最后通过第三层遮罩蒸镀金源/漏电极以定义沟道尺寸。
2:样品选择与数据来源:
测试器件置于暗室内的低温恒温器中。氙放电灯耦合单色仪产生的400-700纳米单色光通过石英窗口传入低温恒温器。
3:实验设备与材料清单:
铝栅电极、聚苯乙烯(Sigma Aldrich,分子量350,000)、DNTT、金源/漏电极、聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)衬底、Kapton遮罩、氙放电灯耦合单色仪(Jobin Yvon Triax 320)、传感器(安立MA9411A1型)。
4:0)、DNTT、金源/漏电极、聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)衬底、Kapton遮罩、氙放电灯耦合单色仪(Jobin Yvon Triax 320)、传感器(安立MA9411A1型)。
实验流程与操作规范:
4. 实验流程与操作规范:使用源测量单元(Keithley 2636B)施加栅极和漏极电压并测量漏电流ID,所有测量均在室温常压环境下进行。
5:数据分析方法:
实验数据分析包含从准静态特性中提取光电灵敏度与光电响应率的统计技术及软件工具。
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