研究目的
检测探测器对接近最小电离状态的粒子(尤其是高能质子)的分辨能力,并研究重带电粒子的单像素能量范围。
研究成果
对轻重带电粒子的探测已在较低和较高能量范围内进行研究,从而扩展了探测器的分辨能力和量程。通过将簇形态分析、径迹分析与能谱数据相结合,提高了对不同粒子类型的鉴别能力。诸如传能线密度(LET)和半值层(HL)等导出量提供了更高的灵敏度。通过对粒子径迹上能量损失的详细采样,能够实现对轻重带电粒子更精确的区分。
研究不足
在950千电子伏特/像素以上,由于Timepix ASIC芯片中每个像素的电荷灵敏前置放大器饱和,特别是对于重离子,每个像素的光谱测量信号可能会失真。通过以低偏压运行传感器,可以部分抑制这一限制。
1:实验设计与方法选择:
利用粒子加速器产生的粒子束研究了Timepix探测器对重带电粒子的响应。该方法包括对簇形态参数、能谱测量、径迹追踪及LET(传能线密度)和簇高度与路径长度比等衍生量的分析。
2:样本选择与数据来源:
测量了低能和高能质子、α粒子以及不同能量和方向的碳-12(12C)和硅-28(28Si)离子。
3:实验设备与材料清单:
使用配备300微米厚硅传感器的MiniPIX-Timepix探测器。
4:实验步骤与操作流程:
将探测器置于粒子束下进行辐照,记录数据以分析径迹形态、能谱响应和方向信息。
5:数据分析方法:
进行了簇形态模式识别及逐像素能谱测量与径迹分析,包括推导LET和HL(高度×径迹长度)值。
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