1：实验设计与方法选择：

本研究基于维信诺柔性/刚性LTPS-AMOLED生产线的前沿实验。采用刚性产品的常规LTPS工艺流程制备AMOLED驱动电路的TFT背板。

2：样品选取与数据来源：

样品取自维信诺生产线，重点关注发现含银化合物的区域。

3：实验设备与材料清单：

包括Orbotech Quantum IC6HRS自动光学检测仪、MERLIN-349599-9001-010扫描电镜、AURIGA-346599-9001-000聚焦离子束截面分析仪、OXFORD-51-XMX1004能谱仪、Nikon ECLIPSE L300N金相显微镜及Tektronix TDS2024C示波器。

4：实验流程与操作步骤：

研究涉及LTPS-AMOLED面板制备、含银化合物识别、形成机理分析及其在电场作用下的响应测试与去除尝试。

5：数据分析方法：

通过扫描电镜、聚焦离子束、能谱仪和光学检测分析含银化合物的成分与行为特性。