研究目的
研究CdSe纳米片和量子点的发光线宽展宽特性,以应用于白光LED(w-LED)。
研究成果
核心CdSe纳米片层(NPLs)的窄带宽归因于极窄的非均匀线宽,而非更强的激子-声子耦合。尽管存在较大热位移,CdSe NPLs仍展现出应用于w-LED和显示器的卓越光谱特性。
研究不足
该研究仅限于CdSe纳米结构,未探索其他半导体材料。已指出NPLs在w-LED应用中存在高温稳定性和色偏问题等潜在局限性。
1:实验设计与方法选择:
记录了核壳结构CdSe纳米片(NPLs)和量子点(QDs)在不同温度范围(4至423 K)下的发射光谱,以研究均匀展宽和非均匀展宽的贡献。
2:样品选择与数据来源:
合成了不同尺寸和壳层厚度的CdSe QDs和NPLs。使用爱丁堡FLS920光谱仪记录光致发光(PL)光谱。
3:实验设备与材料清单:
牛津仪器液氦低温恒温器、林克姆高温样品台、滨松R928光电倍增管探测器、450 W氙灯。
4:实验步骤与操作流程:
对发射光谱进行检测系统灵敏度校正,并转换为每个能量间隔的光子通量。
5:数据分析方法:
通过测量峰值强度一半处的光谱宽度直接确定发射光谱的半高全宽(FWHM)。
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Hamamatsu R928 PMT detector
R928
Hamamatsu
Used for detecting emission spectra.
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Edinburgh FLS920 spectrometer
FLS920
Edinburgh
Used for recording PL spectra.
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Oxford Instruments liquid helium cryostat
Oxford Instruments
Used for temperature dependent measurements up to 300 K.
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Linkam high temperature stage
Linkam
Used for temperature dependent measurements above 300 K.
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450 W xenon lamp
Used as excitation source during measurements.
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