研究目的
本工作主要致力于采用传统固相法,以ZnO、MgO和Al2O3粉末为原料制备靶材,获得Mg:Al(10:2重量比)共掺杂且MgO含量相对较高(10重量%)的ZnO靶材。同时研究了通过低成本靶材采用射频磁控溅射法沉积的Al掺杂ZnO-MgO(AMZO)薄膜的光电性能,并系统考察了工作压强对结构、光学及电学性能的影响。
研究成果
通过常规固态法,利用自制直径4英寸的ZnO-MgO:Al2O3(10:2%重量比)靶材,在康宁玻璃上成功采用射频磁控溅射沉积了AMZO薄膜。该薄膜展现出优良的结构、光学和电学性能,适用于光电子和光伏应用。研究表明,采用机械稳定性良好且可重复制备的自制靶材具有可行性,其质量足以获得具备光电器件适用特性的薄膜。
研究不足
该研究承认,通过优化靶材的制备工艺和薄膜的沉积条件,可进一步提升其光电性能。未来研究可探究更高工作压力及不同掺杂浓度对薄膜性能的影响。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用传统固相反应法,将ZnO、MgO和Al2O3粉末混合后制备4英寸直径陶瓷靶材。粉末经破碎、混合、1050°C热处理、再次破碎、过筛后与乙醇混合,通过冷等静压成型并烧结制成硬质陶瓷靶。
2:样品选择与数据来源:
使用UNIVEX 450B磁控溅射系统(共聚焦几何构型)在康宁7059玻璃和硅衬底上沉积AMZO薄膜。衬底经异丙醇清洗并用氮气吹干。
3:实验设备与材料清单:
主要设备包括飞利浦X'Pert衍射仪(XRD测量)、原子力显微镜系统(表面形貌观察)、珀金埃尔默Lambda 1050紫外/可见/近红外分光光度计(光学反射/透射测量)以及ECOPIA HMS-3000霍尔效应测试系统(电学性能测试)。
4:实验流程与操作规范:
溅射腔室预抽真空至10^-5 Pa。在0.21-0.82 Pa工作压强范围内(以氩气为工作气体),固定射频功率250 W和衬底温度300°C进行薄膜沉积。
5:21-82 Pa工作压强范围内(以氩气为工作气体),固定射频功率250 W和衬底温度300°C进行薄膜沉积。
数据分析方法:
5. 数据分析方法:通过XRD、AFM、紫外-可见吸收光谱及霍尔效应测量分析薄膜的结构、光学及电学特性。
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