研究目的
研究锰掺杂对钙钛矿发光二极管中离子迁移的影响以提高其稳定性。
研究成果
锰掺杂显著提高了钙钛矿发光二极管中离子迁移的活化能并降低了扩散系数,从而提升了器件稳定性。该发现揭示了钝化剂在调控离子迁移及增强钙钛矿基光电器件性能中的作用机制。
研究不足
该研究仅限于PEABr0.2Cs0.4MA0.6PbBr3准块体二维/三维钙钛矿的特定组分,可能无法直接适用于其他钙钛矿组分。此外,锰掺杂对离子迁移影响的潜在机制仍需进一步探究。
该方法包括制备掺锰与未掺锰的钙钛矿发光二极管,随后通过阻抗谱分析和瞬态离子漂移测量来研究离子迁移。实验设计涵盖钙钛矿层制备、器件制作及电学测量,以分析锰掺杂对器件性能和稳定性的影响。
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PEDOT:PSS
Clevios PVP Al 4083
Used as a thin layer in the fabrication of perovskite devices.
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PFI
Nafion
Used as a thin layer in the fabrication of perovskite devices.
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TPBi
Used in the deposition process of perovskite devices.
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LiF
Used in the deposition process of perovskite devices.
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Al
Used in the deposition process of perovskite devices.
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NiOX
Used in the fabrication of devices consisting of NiOX/perovskite/C60/BCP.
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C60
Used in the fabrication of devices consisting of NiOX/perovskite/C60/BCP.
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BCP
Used in the fabrication of devices consisting of NiOX/perovskite/C60/BCP.
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Ag
Used in the deposition process of perovskite devices.
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