研究目的
通过工业等离子体增强化学气相沉积(PECVD)方法研究减反射涂层对晶体硅太阳能电池电势诱导衰减(PID)抗性的增强作用。
研究成果
研究表明,通过直接等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法改性ARC层、在间接PECVD前引入预氧化步骤以及采用新型PP PECVD方法,可显著提升晶体硅太阳能电池的抗PID性能。所有方案均满足光伏组件功率损耗小于5%的IEC 62804标准。
研究不足
该研究承认,从工业应用的角度来看,直接PECVD的生产率低于间接PECVD是一个问题。PP调制PECVD的实际沉积条件与预期略有偏差,影响了实验的准确性。
1:实验设计与方法选择:
本研究通过三项精细实验(包括直接与间接PECVD法、预氧化步骤及新型PP PECVD法)对ARC膜进行改性,以实现逐步无PID化。
2:样本选择与数据来源:
采用6英寸多晶硅(mc-Si)传统铝背?。˙SF)太阳能电池和PERC型单晶硅(c-Si)太阳能电池。
3:实验设备与材料清单:
使用直接PECVD(岛津公司)、间接PECVD(OTB SOLAR DEPX 2400)及PP PECVD(Roth & Rau的Otb Solar Depx 2400)进行ARC膜沉积。
4:实验流程与操作步骤:
PID测试遵循标准流程,包含电池层压、EL成像及气候箱处理。
5:数据分析方法:
通过PID处理前后标准测试条件下的最大输出功率表征PID效应,并进行FTIR和HF刻蚀速率测试以分析膜层特性。
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