研究目的
通过SiO2涂层沉积研究纳米晶TiO2热稳定性的提升。
研究成果
在纳米晶TiO2上沉积二氧化硅壳层可显著提升其热稳定性，在高温下保持锐钛矿相和比表面积的同时不会阻碍表面活性位点的利用。这使得TiO2@SiO2核壳材料在各类催化和吸附应用中极具前景。
研究不足
该研究仅限于碳涂层稳定的条件，不适用于含氧环境。热稳定性提升取决于二氧化硅负载量。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用溶胶-凝胶法，以钛酸丁酯为前驱体合成二氧化硅包覆的纳米晶TiO2。通过初湿浸渍法，使用乙醇溶液中的TEOS和OMHS作为硅源沉积二氧化硅壳层。
2：样品选择与数据来源：
以非晶纳米级TiO2干凝胶为基底进行二氧化硅包覆，制备了含0.5%、2%和5%（重量比）Si的样品。
3：5%、2%和5%（重量比）Si的样品。 实验设备与材料清单：
3. 实验设备与材料清单：EPR光谱仪(ERS-221)、Micromeritics ASAP-2400仪器用于BET比表面积测量、布鲁克D8衍射仪进行XRD分析、JEM-2010CX显微镜用于高分辨透射电镜成像。
4：1)、Micromeritics ASAP-2400仪器用于BET比表面积测量、布鲁克D8衍射仪进行XRD分析、JEM-2010CX显微镜用于高分辨透射电镜成像。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：样品在300至1000°C温度范围内煅烧，分析物相组成、晶粒尺寸和比表面积。通过苝吸附研究电子受体位点。
5：数据分析方法：
XRD分析物相组成和晶粒尺寸，BET测定比表面积，BJH计算孔径分布，EPR表征电子受体位点。
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Brucker D8 diffractometer
D8
Brucker
Performing XRD analysis
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EPR spectrometer
ERS-221
Recording EPR spectra at room temperature
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Micromeritics ASAP-2400
ASAP-2400
Micromeritics
Determining specific surface areas by the BET method and pore size distributions by the BJH method
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JEM-2010CX microscope
JEM-2010CX
Obtaining high-resolution transmission electron microscopy images
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