研究目的
通过分析光学厚度、散射反照率和壁面发射率对扩散近似精度的影响,研究扩散近似方法在平面渐变折射率介质中的适用性。
研究成果
DA方法的精度随着光学厚度或散射反照率的增加以及壁面发射率的降低而提高。误差主要出现在介质边界和中心区域,在光学厚度或壁面发射率达到特定条件时稳定于较小值。
研究不足
为简化起见,本研究仅限于二维稳态辐射传输方程。问题的复杂性及计算负荷会随问题复杂程度增加而上升,尤其对于非均匀介质辐射情况。
研究目的
通过分析光学厚度、散射反照率和壁面发射率对扩散近似精度的影响,研究扩散近似方法在平面渐变折射率介质中的适用性。
研究成果
DA方法的精度随着光学厚度或散射反照率的增加以及壁面发射率的降低而提高。误差主要出现在介质边界和中心区域,在光学厚度或壁面发射率达到特定条件时稳定于较小值。
研究不足
为简化起见,本研究仅限于二维稳态辐射传输方程。问题的复杂性及计算负荷会随问题复杂程度增加而上升,尤其对于非均匀介质辐射情况。
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