研究目的
通过SnO2和Ag共修饰促进光生电荷转移与分离，从而提升纳米级BiOBr的光电性能。
研究成果
通过一锅水热法制备的Ag-SnO2-BOB纳米复合材料展现出优异的光电性能，具有高表面光电压响应，这归因于SnO2与Ag共修饰的协同效应。该研究为通过调控光电子寿命、热力学能量及促进O2吸附来提升BOB光电性能提供了有效途径，为获得高性能光电器件材料开辟了新方向。
研究不足
该研究聚焦于经SnO2和Ag修饰的BiOBr纳米片的 光电特性及电荷转移与分离机制。潜在局限性包括合成方法的可扩展性以及纳米复合材料在不同环境条件下的稳定性。
1：实验设计与方法选择：
采用简单的一锅水热法制备SnO?和Ag共修饰的BiOBr纳米复合材料（Ag-SO-BOB）。
2：样品选择与数据来源：
通过一步水热法合成BiOBr纳米片。
3：实验设备与材料清单：
X射线粉末衍射仪（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、紫外-可见分光光度计、X射线光电子能谱（XPS）、光化学池测量、荧光光谱仪、表面光电压谱仪、瞬态表面光电压（TS-SPV）测量、氧气脱附的温度程序脱附（TPD）。
4：实验步骤与操作流程：
依次合成BiOBr纳米片、SnO?/BiOBr纳米复合材料及Ag-SnO?-BiOBr纳米复合材料，随后进行表征与光电性能测试。
5：数据分析方法：
分析晶体结构、尺寸与形貌、光学性能、光电性能及电荷分离机制。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
Spectrofluorometer
Perkin-Elmer LS 55
Perkin-Elmer
Measuring the fluorescence of 7-hydroxycoumarin
-
Digital phosphor oscilloscope
DPO 4104B
Tektronix
Collecting the photovoltage signals generated by the sample
-
X-ray powder diffraction (XRD) diffractometer
Bruker D8 Advance
Bruker
Analyzing the crystal structure of the samples
-
Scanning electron microscopy (SEM)
Hitachi, S-4800
Hitachi
Investigating the size and morphology of the final products
-
Transmission electron microscopy (TEM)
JEOL, JEM-2100
JEOL
Investigating the size and morphology of the final products
-
UV-vis spectrophotometer
Shimadzu UV-2550
Shimadzu
Determining UV-vis absorption spectra
-
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Kratos-AXIS ULTRA DLD
Kratos
Testing XPS spectra
-
Surface photovoltage spectroscope
Home-built
Measuring the surface photovoltage (SPV) responses of different samples
-
Pulsed laser
Lab-130-10H
Newport
Exciting the samples for transient-state surface photovoltage (TS-SPV) measurements
-
Chemisorption Analyzer
tp 5080 Chemisorb
Performing temperature-programmed desorption (TPD) for desorption O2
-
Gas chromatograph
GC-7920
AuLight
Measuring the CO oxidation experiment results
-
登录查看剩余9件设备及参数对照表
查看全部
