研究目的
展示硅（Si）和铟镓砷/磷化铟（InGaAs/InP）单光子雪崩探测器（SPADs）探测效率的可溯源校准，并描述所使用的校准设施及参考标准探测器。
研究成果
已实现SPAD探测器检测效率的校准，其标准不确定度≤1%，证明了量子探测系统的可靠性。该研究强调了可追溯测量在量子技术应用中的重要性。
研究不足
在高光子通量率下，由于雪崩光电二极管的死时间和复位时间以及激光源发射光子的泊松统计特性，检测效率会显著下降。
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[2018年精密电磁测量会议（CPEM 2018）- 法国巴黎（2018.7.8-2018.7.13）] 2018年精密电磁测量会议（CPEM 2018）- 德国联邦物理技术研究院（PTB）单光子雪崩探测器校准
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DOI：10.1109/CPEM.2018.8500968
出版年份：2018
更新时间：2025-09-10 09:29:36
摘要：
本文介绍了硅（Si）和铟镓砷/磷化铟（InGaAs/InP）单光子雪崩探测器（SPADs）探测效率的可溯源校准。我们描述了所用的校准设施和参考标准探测器，以及测量结果向德国联邦物理技术研究院（PTB）光学功率一级标准（低温辐射计）的溯源链。作为示例，分别展示了在850纳米和1550纳米波长下，针对不同光子通量率测量的硅和铟镓砷/磷化铟单光子雪崩探测器的探测效率。测量的标准不确定度≤1%。
作者：
M. López，R. E?ling，H. Hofer，B. Rodiek，S. Kück
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