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LaMnO?/SrTiO?极性/非极性异质结的电子结构与能带排列

DOI:10.1002/admi.201801428 期刊:Advanced Materials Interfaces 出版年份:2018 更新时间:2025-09-09 09:28:46
摘要: 极性LaMnO3(LMO)薄膜外延生长于非极性SrTiO3(001)(STO)衬底上的行为,既受LMO/STO能带排列调控,也与Mn阳离子的化学性质相关。通过原位X射线光电子能谱直接测量了LMO/STO异质结的价带偏移量(VBO)随厚度的变化关系,发现较厚(≥3个单胞层)薄膜的VBO为2.5电子伏特。未在任何厚度LMO薄膜中发现内建电场的证据。通过Mn L边X射线吸收谱和扫描透射电子显微镜空间分辨电子能量损失谱对Mn价态的测量表明:Mn2+仅存在于LMO表面而非LMO/STO界面。密度泛函理论模拟验证了理想界面与混合界面的VBO均约为2.5电子伏特,进一步佐证了这些结果。我们提出一个极性/非极性LMO/STO异质结行为模型:通过LMO表面形成氧空位来缓解极化灾变效应。
作者: Tiffany C. Kaspar,Peter V. Sushko,Steven R. Spurgeon,Mark E. Bowden,David J. Keavney,Ryan B. Comes,Sahar Saremi,Lane Martin,Scott A. Chambers
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研究概述 实验方案 设备清单

研究极性LaMnO3(LMO)薄膜在非极性SrTiO3(001)(STO)异质结上外延生长时的电子结构和能带排列,重点关注价带偏移(VBO)、内建电场的存在以及Mn阳离子的化学性质。

研究得出结论:LMO/STO异质结的价带偏移量(VBO)大于先前预测值,且任何厚度的LMO薄膜中均未发现内建电场迹象。在LMO表面检测到Mn2+但界面处未发现,这表明极化灾变效应通过LMO表面的氧空位得到缓解。DFT模拟支持这些发现,显示理想界面与混合界面的VBO均约为2.5电子伏特。

该研究的局限性在于X射线吸收谱(XAS)在TEY检测模式下的表面敏感性,可能无法完全捕捉Mn2+在整个薄膜中的分布情况。此外,据报道LMO的带隙会随氧含量显著变化,从而影响导带排列。

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