研究目的
研究表面缺陷对未掺杂ZnGa2O4磷光体中白光磷光的控制，以用于潜在的照明或信号应用。
研究成果
以乙酰丙酮镓为前驱体合成的ZnGa2O4磷光体表现出最高的磷光发射强度，其CIE坐标接近纯白光。该磷光持续时间约212秒，是迄今报道的基于镓材料中最长的，使其成为固态照明或信号应用的理想候选材料。
研究不足
该研究聚焦于未掺杂的ZnGa2O4荧光粉及其发光特性，但其在照明或信号装置中规?；τ糜胧导视τ玫那绷ι形吹玫匠浞痔骄俊?/p>
1：实验设计与方法选择
采用两种不同镓前驱体（硝酸镓和乙酰丙酮镓）通过简单燃烧法合成样品。结构表征通过X射线衍射完成，形貌分析使用透射电子显微镜(TEM)。光学表征包括紫外-可见吸收光谱、荧光光谱及长余辉衰减曲线。
2：样品选择与数据来源
用于合成ZnGa2O4荧光粉的试剂包括：硝酸镓(99%，Sigma-Aldrich)、乙酰丙酮镓(99%，Sigma Aldrich)、硝酸锌(99.8%，Fermont)、柠檬酸(97%，Sigma-Aldrich)和乙二醇(99%，Sigma-Aldrich)。
3：实验设备与材料清单
配备Cukα辐射源(λ=1.5418?)的布鲁克衍射仪、JEOL JEM-2010型TEM显微镜、SDT 600热分析仪(TA仪器)、紫外-可见分光光度计(Agilent)、普林斯顿仪器模块化Acton SpectraPro荧光光谱仪、柯尼卡美能达CS-2000分光辐射计、ABA(MB300)分光光度计。
4：实验流程与操作步骤
将前驱体溶于去离子水和乙醇，搅拌后加入乙二醇和NH4OH，加热后于700°C煅烧，随后进行结构与光学性能表征。
5：数据分析方法
X射线衍射分析、TEM成像、紫外-可见吸收光谱分析、荧光光谱分析及磷光衰减时间曲线分析。
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JEOL JEM-2010 microscope
JEM-2010
JEOL
Transmission electron microscopy (TEM) imaging
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Gallium nitrate
Sigma-Aldrich
Precursor for synthesis of ZnGa2O4 phosphors
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Acetylacetonate of gallium
Sigma Aldrich
Precursor for synthesis of ZnGa2O4 phosphors
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Zinc nitrate
Fermont
Precursor for synthesis of ZnGa2O4 phosphors
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Citric acid
Sigma-Aldrich
Reagent for synthesis
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Ethylene glycol
Sigma-Aldrich
Reagent for synthesis
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Bruker diffractometer
Bruker
X-ray diffraction analysis
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Thermal Analyzer SDT 600
SDT 600
TA Instruments
Thermogravimetric/Differential thermal analysis (TGA/DTA)
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UV-Vis spectrophotometer
Agilent
UV-vis absorbance spectra measurement
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Acton SpectraPro Fluorometer
SpectraPro
Princeton Instruments
Fluorescence spectra and long persistence decay curves recording
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Konica Minolta CS-2000 spectroradiometer
CS-2000
Konica Minolta
Chromaticity coordinates (CIE coordinates) acquisition
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ABA (MB300) spectrophotometer
MB300
ABA
Fourier transform infrared (FTIR) spectra recording
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