研究目的
分析使用KTa1-xNbxO3偏转器的扫频源光学相干断层扫描系统中电压噪声和抖动对点扩散函数深度偏差的依赖性。
研究成果
使用KTN偏转器的SS-OCT系统中的深度偏差主要受抖动而非电压噪声限制。降低抖动可有效提升断层图像质量。精确评估噪声对深度偏差和信噪比的影响需要真实包络。
研究不足
该研究的局限性包括假设电压噪声和抖动服从高斯分布,这可能无法涵盖所有实际噪声特性。此外,与通过测量获得的真实包络相比,采用理想包络的模拟结果可能会高估对深度偏差和信噪比的影响。
1:实验设计与方法选择:
本研究基于既往报道和实验,模拟了含电压噪声与抖动的干扰波形。研究方法包括在扫频光学相干断层扫描(SS-OCT)系统中使用铌酸锶钡(KTN)偏转器,分析电压噪声与抖动对深度偏差的影响。
2:样本选择与数据来源:
研究采用既往报道和实验中获得的典型电压噪声值(ΔVTYP)与抖动值(ΔtTYP)。
3:实验设备与材料清单:
配备KTN偏转器的SS-OCT系统,包含扫频光源、分束器、反射镜、光电探测器(PD)、模数转换器(ADC)及信号处理器等组件。
4:实验流程与操作步骤:
模拟含噪声的干扰波形,通过重标定与快速傅里叶变换(FFT)评估点扩散函数(PSF)的深度偏差,分析电压噪声与抖动对深度偏差及信噪比(SNR)的影响。
5:数据分析方法:
通过计算多次试验中PSF深度的标准差评估深度偏差,同时评估平均PSF的信噪比以理解噪声对图像质量的影响。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
KTN deflector
Used in the swept light source of the SS-OCT system to deflect the optical beam for wavelength sweeping.
-
Swept light source
Generates the optical output with a swept wavelength for the SS-OCT system.
-
Photodetector
Converts the optical interference waveform into an electrical waveform.
-
Analog-to-digital converter
Converts the electrical interference waveform into digital signals for processing.
-
Signal processor
Processes the digital signals to generate tomographic images.
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部