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用于测量高密度等离子体中谱线位移的高分辨率、高信噪比晶体光谱仪

DOI：10.1063/1.5035303 期刊：Review of Scientific Instruments 出版年份：2018 更新时间：2025-09-04 15:30:14
摘要： 猎户座高分辨率X射线（OHREX）光谱仪是测量猎户座激光装置中短脉冲加热等离子体产生的密度展宽谱线形状的有效工具。我们最近为该仪器配备了电荷耦合器件（CCD）相机，这大幅提高了线移测量的精度。由于OHREX位于猎户座靶室外部，无需设置电磁脉冲屏蔽装置。使用CCD后，我们获得了比先前使用成像板探测器更高的信噪比。这使得我们能够观察到由两个OHREX晶体衍射产生的图像结构，且这种结构在每次打靶中都具有高度可重复性。该结构最终将限制我们光谱测量的精度。
作者： P. Beiersdorfer，E. W. Magee，G. V. Brown，N. Hell，A. McKelvey，R. Shepherd，D. J. Hoarty，C. R. D. Brown，M. P. Hill，L. M. R. Hobbs，S. F. James，L. Wilson
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

利用升级版OHREX光谱仪配合CCD相机研究高密度等离子体中密度展宽谱线的形状并测量谱线位移。

研究成果

通过为OHREX光谱仪配备CCD相机，线位移测量的精度得到了显著提升，能够观测到数电子伏特量级的相对位移。晶体衍射产生的图像结构具有高度可重复性，这最终将成为限制光谱测量精度的因素。计划开展进一步实验以探究所观测位移的潜在成因。

研究不足

晶体衍射产生的图像中观察到的结构可能会限制光谱测量的准确性。此外，在没有进一步实验的情况下，不能排除观测到的红移是由目标表面吹出的物质引起的这种可能性。

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