研究目的
开发一种集成的电容层析成像（ECT）与静电传感器，用于测量颗粒工艺中的体积流量，能够在同一横截面上同时测量颗粒浓度和速度。
研究成果
所开发的ECT-ES传感器可测量固体浓度、固体速度和体积流量，相对误差小于10%。它为颗粒过程参数测量提供了替代方法，具有在线监测颗粒流动的潜力。
研究不足
由于缺乏校准仪器，无法确定相关速度的测量精度。在给定实验条件下，互相关速度的相对标准偏差低于0.5%。
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[IEEE 2018年国际成像系统与技术会议（IST）- 波兰克拉科夫（2018.10.16-2018.10.18）] 2018年IEEE国际成像系统与技术会议（IST）- 用于颗粒流测量的集成电容层析成像与静电传感器
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[IEEE 2018年国际成像系统与技术会议（IST）- 波兰克拉科夫（2018.10.16-2018.10.18）] 2018年IEEE国际成像系统与技术会议（IST）- 用于颗粒流测量的集成电容层析成像与静电传感器
DOI：10.1109/IST.2018.8577202
出版年份：2018
更新时间：2025-09-04 15:30:14
摘要：
已开发出一种集成电容层析成像（ECT）与静电传感器的装置，用于颗粒工艺中的体积流量测量。与传统质量/体积流量测量方法不同，该集成传感器可在同一横截面同时测量颗粒浓度和速度，而非不同横截面。实验采用所开发的传感器对颗粒浓度、速度及体积流量进行测量。结果表明该集成传感器能有效测量颗粒工艺参数，其测得的体积流量相对误差小于10%。
作者：
Jun Long，Marco A. Rodriguez Frias，Khursiah Zainal Mokhtar，Wuqiang Yang
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