研究目的
通过在微波等离子体辅助化学气相沉积过程中,使用同位素富集的硅烷SiH4气体原位掺杂28Si、29Si和30Si同位素于同质外延金刚石薄膜中,以获得光谱特性一致的SiV?发射体。
研究成果
该研究成功展示了利用同位素富集硅对外延金刚石层进行可控原位掺杂,从而形成具有极窄零声子线(ZPL)组分的单同位素SiV?色心集合体。该方法可通过调控薄膜厚度控制SiV?发射强度,并为制备能量局限在极窄范围内的SiV?发射体集合体开辟了途径。
研究不足
该研究的局限性在于:需要高温退火才能获得窄的零声子线(ZPL)成分,且难以控制SiV?中心的面密度以满足单光子发射器应用的需求。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用微波等离子体辅助化学气相沉积(MPCVD)技术生长外延掺硅金刚石薄膜,掺杂过程通过原位同位素富集硅烷SiH4气体实现。
2:样品选择与数据来源:
以抛光(100)晶向IIa型高温高压(HPHT)金刚石片为衬底。
3:实验设备与材料清单:
设备包括微波等离子体化学气相沉积系统、高分辨率傅里叶变换红外光谱仪(布鲁克IFS 125 HR)及闭循环氦制冷机(Cryomech PT403)。材料包含同位素富集硅烷SiH4气体及CH4/H2混合气体。
4:实验流程与操作步骤:
生长过程中衬底温度维持在1100±20°C,沉积后的金刚石薄膜在1400°C真空环境下退火1小时以释放应力并窄化零声子线组分。
5:数据分析方法:
通过低温(5K)下测量的光学吸收谱与光致发光谱分析SiV?色心。
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