研究目的
利用改进的平面二极管混频器技术升级干涉仪-偏振计系统,以降低相位噪声并实现对高频波动更灵敏的测量,从而提升宽带波动测量能力。
研究成果
升级为平面二极管混频器后,噪声基底显著降低,使得在更宽频率范围内测量低幅波动成为可能。法拉第旋转测量分辨率可达250 kHz,芯部密度波动测量分辨率达600 kHz。通过进一步提高对准公差并采用双混频器相关技术,可进一步提升系统性能。
研究不足
探测光束的对准公差要求严格(位移≤0.1毫米),且需要进一步工作以改善150千赫兹以上波动的对准情况。平面二极管混频器的小孔径可能会限制小空间尺度波动的分辨率。
1:实验设计与方法选择:
本研究通过为麦迪逊对称环面干涉仪-偏振仪系统升级平面二极管混频器以降低相位噪声。
2:样本选择与数据来源:
该系统在特定条件(等离子体电流Ip=400千安,芯部电子密度1×10^19米^-3)的等离子体中进行测试。
3:实验设备与材料清单:
远红外(FIR)激光系统、弗吉尼亚二极管公司生产的平面二极管混频器。
4:实验流程与操作步骤:
通过测量偏振仪最高250千赫兹和干涉仪最高600千赫兹的波动来表征系统性能。
5:数据分析方法:
采用功率谱密度分析评估系统性能。
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