研究目的
研究基于二氧化硅的PLC光分路器在温湿度变化下的可靠性,重点关注插入损耗和偏振相关损耗的变化。
研究成果
研究表明,由于热膨胀系数不匹配导致的热胀冷缩错位,温度会显著影响PLC光分路器的插入损耗——在75°C时最大变化达0.472 dB,在-40°C时达0.486 dB,而偏振相关损耗始终保持极小值。建议通过采用高玻璃化转变温度和耐湿性的粘合剂等封装改进措施来提升可靠性。该发现同样适用于其他基于PLC的器件。
研究不足
本研究仅限于基于二氧化硅的PLC光分路器及特定温湿度条件,未涉及其他环境因素或超过15次循环的长期老化效应。有限元模型经过简化,可能无法完全反映实际封装中的所有复杂情况。
1:实验设计与方法选择:
本研究结合GR-1209-CORE和GR-1221-CORE标准要求,设计在线循环温湿度可靠性测试。采用有限元法(FEM)模拟温度对器件性能的影响。
2:样品选择与数据来源:
依据LTPD抽样准则,从A公司生产的PLC光分路器批次中选取18个样品。在温湿度循环过程中采集1550nm波长下的插入损耗和偏振相关损耗数据。
3:实验设备与材料清单:
温湿度试验箱、光功率测量设备、PLC光分路器、紫外胶(UV环氧树脂A/B/C)、熔融石英光纤、石英PLC芯片、硼硅酸盐玻璃纤维阵列。
4:实验流程与操作规范:
测试包含15次从高温高湿(75℃/90%RH)至低温(-40℃)的循环,每个极端条件保持10小时,温度变化速率1℃/分钟,在升降温阶段每10分钟采样一次数据,恒温阶段每小时采样一次,同步进行光性能在线监测。
5:数据分析方法:
分析插入损耗和偏振相关损耗变化,将光功率损耗变化超过0.5dB定义为失效。通过FEM模拟热应力、应变和对准偏差,耦合效率采用特定公式计算。
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