研究目的
设计和建造一台高分辨率软X射线谱仪，用于对温稠密物质和高能量密度等离子体物理进行X射线吸收光谱测量，实现具有高信噪比的单次实验。
研究成果
该光谱仪实现了高分辨率（高达540）和信噪比（10次激发下达到130），证明了其在温密物质时间分辨X射线吸收光谱研究中的可行性，以及在高能量密度等离子体研究中的应用潜力。
研究不足
由于等离子体展宽，分辨率测量值为下限；该光谱仪需在真空条件下运行并精确校准；电荷耦合器件（CCD）的尺寸限制了单次拍摄的全谱覆盖范围，因此宽带测量时需要进行移动。
1：实验设计与方法选择：
该光谱仪采用掠入射环形镜进行聚焦，使用像差校正的VLS凹面光栅实现色散，并配备CCD探测器。其设计适用于250-1240 eV能区的平场工作模式。
2：样品选择与数据来源：
校准使用由150 TW激光系统辐照聚酰亚胺和铋靶产生的激光等离子体，以及XFEL光源。
3：实验设备与材料清单：
包含环形镜、VLS光栅（日立，型号001-0659）、CCD探测器（安道尔科技，型号iKon L-SO）、电动狭缝、滤光片、束流阻挡器及对准激光器。
4：9）、CCD探测器（安道尔科技，型号iKon L-SO）、电动狭缝、滤光片、束流阻挡器及对准激光器。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：组件在真空腔内完成对准；通过移动探测器覆盖不同能区记录光谱；校准过程采用已知发射线拟合色散方程。
5：数据分析方法：
利用最小二乘法拟合色散关系；通过发射线半高宽计算分辨率；基于平均光谱评估信噪比。
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CCD detector
iKon L-SO
Andor Tech
X-ray detector for recording dispersed spectra
-
VLS concave grating
001-0659
Hitachi
Dispersive element for spectral dispersion
-
toroidal mirror
Focusing optic to increase photon flux density
-
slits
Adjustable slits to control spectral resolution
-
filter
Suppress visible lights from the source
-
beam stopper
Block direct path from source to detector
-
zeroth order cutting mirror
Block zeroth order reflection and aid alignment
-
alignment laser
For alignment of optical components
-
off-axis parabola
F#3
Focusing optic for laser pulses in plasma production
-
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