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KMgCl3中杂质诱导的交叉发光:一项从头算研究

DOI:10.1088/1361-648X/aafd0a 期刊:Journal of Physics: Condensed Matter 出版年份:2019 更新时间:2025-09-23 15:23:52
摘要: 采用密度泛函理论计算了主体材料及Cs掺杂KMgCl3的电子结构和光学性质。为准确预测带隙和光谱特性,所有计算均使用Tran和Blaha修正的Becke-Johnson势(TB-mBJ)方法。研究发现该化合物为绝缘体,采用广义梯度近似(GGA)和TB-mBJ泛函分别得到其直接带隙为4.7 eV和6.9 eV。虽然晶体结构具有各向异性,但计算折射率显示该化合物在低能区呈现光学各向同性。理论计算表明,由于Cs掺杂在价带下方引入额外能级,使该材料比主体化合物具有更优异的交叉发光性能。详细讨论见正文。
作者: G. Shwetha,V. Kanchana
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研究概述 实验方案 设备清单

研究主体材料及Cs掺杂KMgCl3的电子结构与光学性质以预测杂质诱导的交叉发光。

掺杂铯的KMgCl3预计将成为比母体化合物更优异的交叉发光材料,因为铯掺杂会在价带下方引入额外能态,减小能量差并满足交叉发光的条件。该母体化合物在低能区具有光学各向同性。

该研究为理论计算性质,缺乏实验验证。由于计算资源限制,掺杂浓度最高仅为25%。目前无可用于光学性质对比的实验数据。

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