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[IEEE 2018年第18届天线技术与应用电磁学国际研讨会(ANTEM) - 安大略省滑铁卢市 (2018.8.19-2018.8.22)] 2018年第18届天线技术与应用电磁学国际研讨会(ANTEM) - 利用腔体微扰技术表征Ka波段电介质材料

DOI：10.1109/ANTEM.2018.8572965 出版年份：2018 更新时间：2025-09-23 15:23:52
摘要： 采用微扰技术对介质材料的介电常数和介电损耗特性进行仿真表征。该技术的工作频率已扩展至Ka波段。仿真结果表明，这种微扰技术适用于毫米波频段高介电常数介质材料的表征，并能保持良好的精度。
作者： Xiufeng Shi，David M Klymyshyn
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

将腔体微扰技术扩展至Ka波段，通过仿真表征介质材料的介电常数和介电损耗，并评估该技术在更高频段的准确性与有效性。

研究成果

腔体微扰技术能有效测量Ka波段（约33GHz）高介电常数介质材料的介电常数和介电损耗，除极低损耗正切值的样品外，对大多数样品具有可接受的精度。该方法在毫米波应用中展现出潜力，但需进一步研究以优化样品尺寸并扩展至其他材料状态。

研究不足

对于损耗角正切极低的样品（例如tanδ=0.0004的聚乙烯），由于Q因子的微小变化被模拟不确定性所掩盖，测量精度会下降。样品厚度至关重要，厚度越大精度越低。该方法目前仅限于模拟和固体材料，在实际应用中可能存在样品制备及液体扩展等问题。

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