研究目的
合成并表征YAG:Ce荧光粉,通过金纳米颗粒的原位改性提升其性能,以应用于光电子领域,如低能耗光源。
研究成果
YAG:Ce荧光粉的合成及其与金纳米颗粒的复合改性成功提升了光学性能,包括增强发光强度、光谱红移、减少团聚现象以及提高量子产率,使其适用于高性能白光发光器件。
研究不足
该研究可能存在以下局限:金纳米颗粒在荧光粉表面的分布均匀性、合成方法的可扩展性,以及为提升实际应用性能而需进一步优化的需求。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用共沉淀法合成YAG:Ce荧光粉,基于静电相互作用(无需连接分子)通过改进Turkevich法制备Au-YAG:Ce复合材料。
2:样品选择与数据来源:
样品包含YAG:Ce荧光粉及Au-YAG:Ce复合材料,由特定原料和条件制备而成。
3:实验设备与材料清单:
设备包括布鲁克光学Tensor 27傅里叶变换红外光谱仪、理学SmartLab X射线衍射仪、FEI Nova NanoSEM 630扫描电镜(配EDAX能谱仪)、贝克曼库尔特Delsa Nano C纳米粒径分析仪及爱丁堡FLS920荧光光谱仪;材料包含硝酸钇、硝酸铝、硝酸铈、二甲基亚砜(DMSO)、十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)、氨水、甘油、氯金酸及柠檬酸钠。
4:实验流程与操作步骤:
YAG:Ce制备采用尿素和CTAB在氨性介质中80-90°C共沉淀,经熟化、过滤、400°C预烧,与甘油/DMSO混合超声处理后1000°C终烧;Au-YAG:Ce通过Turkevich法将氯金酸与柠檬酸钠煮沸,加入CTAB和YAG:Ce混合熟化,离心洗涤后110°C热处理。
5:数据分析方法:
XRD通过德拜-谢乐公式分析结晶度与物相,FTIR检测化学键,SEM观察形貌,EDX分析成分,Zeta电位测定表面电荷,光致发光光谱表征光学性能。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
Bruker Optics Tensor 27 spectrometer
Tensor 27
Bruker
Used for Fourier Transform Infrared (FTIR) spectrometry to study chemical bond configuration.
暂无现货
预约到货通知
-
Rigaku SmartLab X-ray Diffraction System
SmartLab
Rigaku
Used for X-ray diffraction to study crystallinity and phase identification.
暂无现货
预约到货通知
-
FEI Nova NanoSEM 630 system
Nova NanoSEM 630
FEI
Used for scanning electron microscopy with EDAX facility for morphological, microstructural, and compositional analysis.
暂无现货
预约到货通知
-
FLS920 Edinburgh spectrometer
FLS920
Edinburgh
Used for photoluminescence spectroscopy to compare luminescent properties.
-
Beckman-Coulter Delsa Nano C particle analyzer
Delsa Nano C
Beckman-Coulter
Used to measure zeta potential at room temperature.
暂无现货
预约到货通知
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部