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在ZnO晶体基质中进行单掺杂、共掺杂和三掺杂Fe元素

DOI:10.1088/2053-1591/aafaee 期刊:Materials Research Express 出版年份:2019 更新时间:2025-09-23 02:45:53
摘要: 通过系统性的X射线光电子能谱(XPS)和电子顺磁共振(EPR)测试,结合X射线衍射(XRD)与扫描电子显微镜(SEM)的结构形貌分析,研究了Fe元素在ZnO基质中的掺杂行为——包括单掺杂、Mg共掺杂以及Mg与Cu三元共掺杂体系。同时考察了硝酸盐与氯酸盐不同掺杂溶液的影响。XRD结果表明:随着Fe掺杂浓度增加,薄膜结晶质量逐渐劣化;而Mg共掺杂与Mg+Cu三元共掺杂分别使主导晶面取向从(002)转变为(101)和(100)。单Fe掺杂ZnO薄膜呈现最平整均匀的表面,而共掺杂与三元掺杂薄膜则表现出具有三维形貌的过度生长表面结构。XPS分析揭示了Fe在ZnO晶格中的化学环境,证实其以Fe3?价态存在。观测到g值约2.0和4.3的两个特征信号,分别对应氧空位捕获电子和孤立Fe3?。随着Fe掺杂浓度升高,g~2.0信号强度显著增强,而g~4.3信号强度缓慢增加。研究还探讨了EPR信号在强度、线宽及g因子方面的温度依赖性。
作者: Melek Fidan,Demet ?skendero?lu,Yusuf Ko?ak,Zineb Benzait,Emre Gür
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研究概述 实验方案 设备清单

通过单掺杂、与Mg共掺杂以及Mg和Cu三重掺杂,研究ZnO基体中Fe元素的沉积情况,以及不同溶液(硝酸盐和氯酸盐)对Fe掺杂的影响,采用结构、形貌和光谱分析方法。

在ZnO薄膜中掺杂铁元素会导致高浓度下晶体质量下降和相分离。采用镁和铜的共掺杂及三元掺杂可改变主导晶面并增大晶粒尺寸。X射线光电子能谱证实铁以Fe3?价态存在,电子顺磁共振谱显示出源于氧空位缺陷和孤立Fe3?离子的信号。温度依赖性电子顺磁共振表明存在结构变化和反铁磁行为。研究结果表明,要实现铁元素在ZnO中的有效掺杂,必须采用共掺杂或三元掺杂方式。

该研究仅限于铁掺杂浓度最高达20%,且所采用特定溶液(硝酸盐和氯酸盐)可能未涵盖所有可能的掺杂方法。共掺杂和三掺杂样品中g~2.0处的EPR信号消失,表明缺陷表征可能存在局限性。变温EPR分析仅针对10%铁掺杂样品开展,可能无法完全代表所有掺杂水平。

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