1：实验设计与方法选择：

本研究采用溶胶-凝胶法制备Yb3?、Er3?、Tm3?:Y?Si?O?纳米粉体，随后在1050°C和1480°C下退火12小时以研究相效应。通过XRD和SEM进行结构分析，光学表征包括在975 nm激光激发下的漫反射和上转换发光测量。

2：样品选择与数据来源：

制备了五种不同掺杂浓度的Yb3?、Er3?、Tm3?:Y?Si?O?粉体，标记为YSYET1至YSYET5，具体掺杂原子百分比见表1。粉体在两种温度下退火形成α相和β相。

3：实验设备与材料清单：

设备包括布鲁克D2 Phaser X射线衍射仪、FEI Inspect S50扫描电镜、EDAX Octane Prime能谱仪、珀金埃尔默Lambda 35紫外-可见分光光度计、CNI MDL-H-975激光二极管、Acton系列SI 440硅探测器、普林斯顿仪器SP2500i单色仪、爱特蒙特光学950 nm短通滤光片、相干Field Max II-TOP功率计以及Asense Tek Lighting Passport照度计。材料包括来自Sigma-Aldrich的TEOS、Yb(NO?)·H?O、Er(NO?)·5H?O、Tm(NO?)·5H?O和Y(NO?)·6H?O。

4：实验流程与操作步骤：

粉体通过溶胶-凝胶法合成、退火并进行表征。XRD图谱测量范围为10-55°（2θ），步长为0.02°。使用SEM和EDX进行形貌和元素分析。漫反射光谱记录范围为400-1100 nm。在975 nm激发下测量400-850 nm的上转换光谱，调节激光功率并使用滤光片阻挡散射光。使用照度计测量CIE-1931坐标。

5：02°。使用SEM和EDX进行形貌和元素分析。漫反射光谱记录范围为400-1100 nm。在975 nm激发下测量400-850 nm的上转换光谱，调节激光功率并使用滤光片阻挡散射光。使用照度计测量CIE-1931坐标。 数据分析方法：

5. 数据分析方法：将XRD数据与JCPDS标准对比。通过谢乐公式计算晶粒尺寸。分析上转换发射强度与激发功率的关系以确定上转换过程的量子数。利用CIE-1931坐标进行颜色质量分析。