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Temperature Dependence Model of the Laser Diode Bar Current-Voltage Characteristic

DOI:10.3103/S8756699019060062 期刊:Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing 出版年份:2019 更新时间:2025-09-23 15:21:01
摘要: Based on an analysis of di?erences between the experimentally measured temperature dependence of the current-voltage characteristic (I–V curve) of a laser diode bar (LDB) with AlGaAs/GaAs heterostructure and the dependence obtained in accordance with the well-known model of light-emitting diodes, assumptions were made about the sources of these di?erences. The agreement between the experimental and modeled dependences is signi?cantly improved by taking into consideration the change in the resistance of LDB layers caused by temperature change. It is shown that when the injection current is known, the measured voltage drop across the LDB can be used to estimate the temperature of the diode active region in order to implement thermal stabilization for solid-state laser pumping systems based on high-power laser diodes.
作者: A. N. Aparnikova,E. V. Buryia,N. E. Orlova
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研究概述 实验方案 设备清单

to develop a model for the temperature dependence of the LDB CVC based on the existing model for the laser diode (LD) CVC which allows the temperature of the LDB active region to be estimated with a smaller error.

The corrected LDB CVC model which takes into account the temperature dependences of the resistances of the elements of the LDB RS(T) structure provides better agreement with the experimental results than the model previously used. The small difference between the temperature sensitivities of the corrected model and the family of experimentally obtained CVCs indicates that using this model, the temperature of the active region of LDBs can be estimated by measuring the potential difference between the terminals of this LDB within the time interval of current pulse passage.

The temperature sensitivity of the CVC cannot be determined with high accuracy since it depends on the LDB design features, the material parameters of the layers, and the technological deviations of their thicknesses.

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