在当今的电子电工领域,为工业加工、通信或配电系统选择核心光源时,光纤激光与半导体激光(常直接称为激光二极管)的抉择是工程师们无法绕开的关键议题。这两种技术路线截然不同,直接影响到设备性能、系统稳定性及长期运营成本。理解它们的核心差异、优劣势以及适用场景,对于优化生产流程、选对电工工具乃至提升整个系统的能效都至关重要。这不仅是一个技术选型问题,更关乎企业的核心
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严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。
概述
参数
- 颜色 / Colors : Red, Orange
- 应用 / Application : Architecture, Entertainment, Studio, Lamps, Remote Phosphor, Specialty Emergency Vehicle
规格书
AI 智能分析
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(Cd:Zn)S/P(VDF-TrFE)复合薄膜的偏振特性与偏振深度分布随光激发的变化关系
复合材料 光激发 铁电聚合物 半导体
研究了光激发强度对铁电-半导体复合材料电学、铁电及热释电性能的影响。为此制备了由聚偏氟乙烯-三氟乙烯共聚物与10体积%(镉锌)硫化物颗粒组成、厚度为34微米的复合薄膜。采用激光强度调制法测量绝对热释电系数并测定相对热释电深度分布。结果表明:在所用相对较小的峰峰值电压下,未施加光激发时样品的极化状态既无法通过Sawyer-Tower电路验证,也无法通过热释电系数测量装置确认。剩余极化强度和热释电系数均随极化过程中光激发强度的增加以及峰峰值电压的升高而增大。热释电系数在极化后最初数小时内呈现时间衰减特性。校准热释电深度分布需要比热容、导热系数或热扩散率数据?;旌隙捎牍馍芯勘砻魉酶春喜牧系娜妊阅苡朐季酆衔镂尴灾钜臁;谟爰植汲烧鹊娜仁偷缟疃确植迹┱沽讼钟?#34;三相模型"以生成替代电路图,该图通过光激发依赖性的局部电阻率和局部场强解释了局部极化现象。
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材料科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择:研究采用在P(VDF-TrFE)基体中掺杂10体积比(Cd:Zn)S颗粒制备复合薄膜。测试方法包括:使用Sawyer-Tower电路进行I-V和极化测量、交流法测量热释电系数、激光强度调制法(LIMM)进行深度剖析、以及光声光谱技术分析热学特性。 2. 样品选择与数据来源:制备了具有特定厚度和电极配置的两种样品(样品1和样品2)。数据采集涵盖电学、铁电、热释电及热学性能测试。 3. 实验设备与材料清单:设备包含光学激发LED、电源、功率计、Sawyer-Tower电路、珀尔帖元件、锁相放大器、LIMM用激光二极管、光声池、斩波器,以及P(VDF-TrFE)、(Cd:Zn)S颗粒、甲基乙基酮、金电极等材料。 4. 实验流程与操作规范:在不同光激发强度和峰峰值电压下对样品进行极化处理,极化后按时间延迟开展热释电测量。LIMM测试从样品双侧实施,光声测量在特定频率下完成。 5. 数据分析方法:热学特性采用混合率法则分析,光声信号运用RG理论解析,LIMM通过频率依赖性实现深度剖析。统计分析包含信号幅值对比与指数衰减拟合。
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