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在现代光电系统和电子电工设备中，光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络，还是调试复杂的激光加工设备，工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清，极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合，掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率，
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概述
来自Thorlabs Inc的Lpnire050-B是波长范围为600至1100nm的偏振器，偏振器直径为12.8mm（0.5英寸），厚度为2.2mm.有关LPNIRE050-B的更多详细信息，请联系我们。
参数
- 偏振器类型 / Polarizer Type : Linear Polarizers
- 偏振器形状 / Polarizer Shape : Round
- 镀膜材料 / Coating Material : Dichroic Film
- 基底/材料 / Substrate/Material : N-BK7
- 表面质量 / Surface Quality : 60-40 scratch-dig
- 透射波前畸变 / Transmitted Wavefront Distortion : 1.5λ Over Clear Aperture
- RoHS / RoHs : Yes
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[IEEE 2018年第25届国际图像处理会议（ICIP） - 希腊雅典（2018.10.7-2018.10.10）] 2018年第25届IEEE国际图像处理会议（ICIP） - 利用偏振形状恢复技术改进飞行时间传感器对镜面反射表面的检测
偏振成像 镜面反射表面 飞行时间传感器 单视图重建 超像素分割
飞行时间（ToF）传感器能够获取漫反射物体的深度值。然而关键问题在于，由于镜面反射效应，这些传感器无法接收来自镜面物体的主动光源。本文提出一种结合ToF信号与偏振成像测距（SfP）的镜面物体深度重建新框架。为解决单视角SfP的病态性问题，我们通过超像素分割技术对每个超像素区域施加平面约束条件。实验结果表明，该深度重建算法在受控环境数据与停车场实车数据中均展现出有效性。
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光电信息科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择：该框架结合飞行时间深度线索与形状从偏振（SfP）技术实现镜面物体的深度重建。通过采用具有平面约束的超像素分割来克服单视角SfP的病态问题。 2. 样本选择与数据来源：数据集采集于不同环境——受控室内环境与真实户外环境。 3. 实验设备与材料清单：使用单个飞行时间传感器（TEDTB-7Z-TCDK-GC2）配合线性偏振片（Thorlabs LPNIRE100B）。 4. 实验流程与操作步骤：将线性偏振片角度设置为0°、45°、90°、135°。该方法包含方位角π模糊校正、基于飞行时间测量估算折射率，以及通过SfP法向量重建绝对深度。 5. 数据分析方法：采用均方根误差（RMSE，单位：米）作为指标，与Levin等人的方法进行重建误差对比。
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厂家介绍
Thorlabs致力于以快速有效的服务，为客户供应高品质的光电产品及附属产品。索雷博, 光学平台, 光学元件, 位移台, 光纤跳线, 激光器, 二极管驱动, 宽谱光源, 光电探测, 光束分析, OCT成像, 成像系统, 压电陶瓷, 光电实验室
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