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AvaSpec-ULS4096CL-EVO 光谱仪

AvaSpec-ULS4096CL-EVO

分类： 光谱仪

厂家： Avantes

产地： 荷兰

型号： AvaSpec-ULS4096CL-EVO

更新时间： 2023-07-20T06:16:27.000Z

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简介：

200 - 1100 nm Spectrometer with 4k CMOS Detector

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概述

Avantes BV的AvaSpec-ULS4096CL-EVO是一款基于CMOS的光谱仪，专为等离子体测量和LIBS（激光诱导击穿光谱）等高分辨率应用而设计。该光谱仪的工作波长为200-1100 nm，提供比USB2高10倍的USB3.0通信速度，以及第二个通信端口，该端口提供千兆以太网，可集成到您的公司网络中，并可进行远距离通信。AvaSpec-ULS4096CL-EVO提供多种狭缝尺寸、光栅和光纤入口连接器。它配备了完整的AvaSoft-Basic软件，USB电缆和广泛的手册。该光谱仪也可作为OEM单位，仅台式或机架式版本。

参数

  • 应用 / Applications : Plasma and LIBS
  • 光纤连接器 / Fiber optic connector : FC/PC
  • 测量技术 / Measuring Techniques : Plasma Spectroscopy
  • 光谱仪类型 / Spectrometer Type : Benchtop, Rackmount
  • 光谱分辨率 / Spectral Resolution : 0.05 to 20 nm
  • 谱带 / Spectrum Band : UV-VIS-NIR, VIS, NIR

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  • 利用可见光和近红外轫致辐射光开发C-2W场反向构型等离子体的有效电荷数诊断系统

    在C-2W装置中，较高的杂质浓度会导致等离子体性能显著下降及辐射能量损失。为评估杂质对等离子体的污染程度，可通过测量无谱线辐射的特定光谱范围内轫致辐射连续谱来确定有效离子电荷数(Zeff)。为此，C-2W装置部署了包含可见光与近红外轫致辐射探测器的诊断系统，用于测量Zeff的时变径向分布。该系统还配备了多台巡检光谱仪阵列，可对真空紫外至近红外波段的杂质发射谱线进行全谱段光谱测量，从而清晰呈现等离子体成分构成。本文阐述了该集成诊断系统的设计方案并进行讨论。

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  • 精密仪器实验方案

    1. 实验设计与方法选择：该诊断系统包含可见光与近红外轫致辐射探测器，用于测量Zeff随时间变化的径向分布。系统还配备了多道光谱仪阵列，用于全面测量杂质发射线的光谱。 2. 样本选择与数据来源：在约束容器的轴向中平面附近，从FRC中心到边缘的多个弦位置进行测量。 3. 实验设备与材料清单：该系统采用多功能光学支架，配备15个聚焦平凸球面透镜、光纤束、带通滤波器以及包括光电倍增管（PMT）和硅雪崩光电二极管（APD）在内的探测器。 4. 实验流程与操作步骤：发射信号由透镜阵列收集，通过光纤传输至独立检测室，经带通滤波器处理后进行探测。 5. 数据分析方法：基于傅里叶反演算法对测量的轫致辐射强度进行反演，获得局部轫致辐射发射率。

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厂家介绍

Avantes 是微型光谱仪开发和应用领域的领先创新者。为了满足客户的应用需求，Avantes 不断开发和推出新的光纤光谱仪。Avantes 的仪器和附件还被广泛应用于全球市场的各种 OEM 应用和各种行业。Avantes 在光纤光谱学领域拥有超过 18 年的经验，在该领域使用的仪器数以千计，我们热切希望帮助客户在 Spectroscopy? 中找到自己的解决方案。

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