在工业自动化和精密测量领域,激光位移传感器已成为不可或缺的电工工具。无论是检测生产线上的微小偏差,还是监控配电系统中设备的振动幅度,其高精度和非接触式测量的优势显著提升了效率与安全性。然而,面对市场上琳琅满目的型号(如基于激光二极管或光纤元件的产品),许多工程师在选型和应用中仍存在困惑。本文将深入解析激光位移传感器的工作原理、核心参数及典型场景,助您全面掌握
UI-1490LE-M-GL
分类: 科学和工业相机
厂家: IDS Imaging Development Systems GmbH
产地: 德国
型号: UI-1490LE-M-GL
更新时间: 2024-07-13T05:22:02.000Z
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科学研究 医疗成像 高分辨率 CMOS 工业自动化 安防监控
USB 2.0, CMOS, 3.2 fps, 3840 x 2748, 10.55 MPix, 1/2", ON Semiconductor, Rolling Shutter
顶刊高频之选
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专业选型
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正规认证
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品质保障
严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。
概述
参数
- 应用 / Application : Microscopy, Medical technology
- 数据接口 / Data Interface : USB 2.0
- 相机类型 / Camera Type : Linear Cameras, Line Scan Cameras
- 扫描模式 / Scan Mode : Prograssive scan
- 传感器类型 / Sensor Type : CMOS
- 色度 / Chrome : Monochrome, B/W
- 透镜支架 / Lens Mount : CS-Mount, C-Mount
- 传感器制造商 / Sensor Manufacturer : ON Semiconductor
- 传感器型号 / Sensor Model Number : MT9J003STM
- 摄像头尺寸 / Camera Head Size : 6.413 x 4.589 mm (Optical Size)
应用
1. 工业自动化 2. 医疗成像 3. 科学研究 4. 安防监控
特征
1. 高分辨率 2. 低功耗 3. 兼容多种镜头安装 4. 宽环境温度范围
详述
规格书
AI 智能分析
该产品已被4篇SCI论文引用
基于平台30万篇光学领域SCI论文分析
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利用等离子体电镀法制备的银纳米粒子光栅芯片检测过氧化氢
银纳米粒子 等离子体镀层 光学传感器 过氧化氢检测 衍射光栅
提出了一种利用银纳米粒子(AgNPs)光栅结构检测过氧化氢(H2O2)的方法?;诘壤胱犹宓缍萍际酰ü躺す馐母缮嫫毓?,在镀金纳米粒子(AuNPs)的玻璃板上沉积周期性线状AgNPs结构。该AgNPs光栅芯片能使入射光发生衍射,且衍射效率与AgNPs含量相关。当芯片滴加H2O2溶液后,由于AgNPs的自催化分解作用,衍射强度会下降。研究构建了衍射强度变化的便携式测量系统,只需将H2O2溶液滴加在基底上,即可在2分钟内完成6.7-668 μmol/L浓度范围内的H2O2检测。
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[2018年IEEE国际成像系统与技术会议(IST)-克拉科夫(2018.10.16-2018.10.18)] 2018年IEEE国际成像系统与技术会议(IST)-阴影成像系统中的粒子测量体积与光强
阴影成像 光学 液态水含量 气象学 机器视觉
正在寻求一种确定颗粒测量所需测量体积仪器的方法。研究表明,测量体积取决于照明光的光学均匀性与相机系统的组合效果。通过混合照明条件与位置的研究结果显示:若已知真实尺寸和背景亮度,采用双指数项拟合方法可平均以4%的精度确定测量体积。使用低倍率镜头会增大测量体积,因为其视场角和景深都会增加。但更大的视场角同时需要更多光照,并对其他光学误差更敏感。
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[IEEE 2018色彩与视觉计算研讨会(CVCS)- 居维克(2018.9.19-2018.9.20)] 2018色彩与视觉计算研讨会(CVCS)- 印刷表面颜色校正方法评估
色彩校正 相机校准 色彩校准 彩色成像
实现色彩的真实还原是印刷应用中一个众所周知的问题。本文在动态图像采集系统的范畴内,评估了不同的相机色彩校准方法。该采集设备由一台RGB相机和两盏固定的钨丝灯组成。我们的目标是在给定的采集条件下确定最稳健的端到端框架。我们测试了一些文献中常被提及的色彩映射方法,并根据特定需求进行了修改。我们改进的基于3D查找表(LUT)的方法在给定条件下表现最佳,未来还有可能结合不同类型LUT的最佳性能特点形成混合LUT。
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光电信息科学与工程实验方案1
1. 实验设计与方法选择:本研究采用等离子体镀膜法结合干涉激光曝光,在金纳米颗粒修饰的玻璃板上制备银纳米颗粒光栅结构用于过氧化氢检测。 2. 样本选择与数据来源:通过磁控溅射金薄膜并在玻璃板上退火制备金纳米颗?;?,利用绿色激光束的干涉曝光装置构建银纳米颗粒光栅结构。 3. 实验设备与材料清单:包括绿色激光器(MSL-III-532,CNI)、电动直线平移台(HPS80-50X-M5,Sigma Koki)、机械快门(F573,Suruga Seiki)及便携式测量系统(含红色激光器CPS635R,Thorlabs和CCD相机UI-2410SE-M-GL,IDS)。 4. 实验流程与操作步骤:通过干涉激光曝光制备银纳米颗粒光栅结构,施加过氧化氢后通过测量衍射强度变化实现检测。 5. 数据分析方法:采用RCWA模拟分析衍射强度变化,使用CCD相机测量时间序列强度变化。
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精密仪器实验方案
1. 实验设计与方法选择:本研究采用阴影成像系统,通过不同相机与镜头配置测量62.5微米圆点在不同光照条件下的检测范围。方法包括使用位移台沿z轴移动测试物体并逐级拍摄图像,随后通过边缘检测处理图像,根据背景光强度确定测量范围。 2. 样本选择与数据来源:使用固定直径为62.5微米、间距125微米的圆点网格玻璃测试物。数据采集自不同照明场景(包括居中光、偏移光和漫射光)控制实验中捕获的图像。 3. 实验设备与材料清单:包含相机(uEye UI-3370CP-NIR和uEye UI-2250SE-M-GL)、镜头(Opto Engineering TC4M004-C和Edmund Optics 110mm WD CompactTL)、测试物(Edmund Optics圆点网格玻璃部件号58509)、照明(带准直镜的Mightex 455nm LED)、扩散片、位移台及千分尺测微计。 4. 实验流程与操作步骤:将测试物置于相机与照明光源之间的位移台上,以1微米或5微米步进沿z轴移动,每步拍摄一张图像。通过高斯拉普拉斯边缘检测处理图像识别可检测圆点,并测量每个圆点位置的背景光强度。 5. 数据分析方法:通过建立各位置检测圆点的直方图,拟合双指数模型关联测量范围与背景光强度,计算平均偏差和信噪比(SNR)评估精度。
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光电信息科学与工程实验方案2
1. 实验设计与方法选择:本研究测试多种颜色映射方法(包括线性、多项式、根多项式、立方根多项式LSA、HPCC及基于LUT的方法),并根据特定应用需求进行改进,旨在固定采集条件下找到从相机RGB到CIELAB色彩空间的最佳转换方案。 2. 样本选择与数据来源:使用含928个色块的IT8/7.3 CMYK校准靶进行校准,通过三个测试靶评估(IT8/7.4 CMYK图表1620色、IT8/7.3 CMYK图表第1页468色、第2页460色,共2548色),并以分光光度计测量的光谱数据作为真实值基准。 3. 实验设备与材料清单:相机:iDS公司UI-1490LE-C-HQ;照明:两盏钨丝灯;校准靶:IT8/7.3 CMYK靶;分光光度计:X-Rite i1Pro;软件:MATLAB用于图像处理与分析。 4. 实验流程与操作步骤:通过相机和灯光采集图像,经去马赛克、平场校正、光学畸变消除、透视偏差校正等流程处理后,应用颜色校准方法,并基于色差指标(CIE ΔE00)评估结果。 5. 数据分析方法:采用均值、中位数、最大色差及阈值百分位数(ΔE00≤2和≤5)进行分析,使用MATLAB进行计算与统计分析。
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