研究目的
研究样品温度对激光诱导钼钨等离子体光学发射的影响，用于核材料的原位元素分析。
研究成果
研究表明，样品温度会显著影响激光诱导等离子体的光学发射，温度越高，谱线发射强度越大。这一发现对于改进托卡马克装置中高Z杂质元素的激光诱导击穿光谱（LIBS）定量分析至关重要。
研究不足
该研究仅限于特定的钼钨合金，可能无法直接适用于其他材料。实验是在大气压下进行的，这可能无法完全复现托卡马克中的条件。
1：实验设计与方法选择：
采用调Q Nd:YAG激光器作为烧蚀源，在钼钨合金样品上产生等离子体，并对等离子体的光谱发射进行检测与分析。
2：样品选择与数据来源：
使用经认证的钼钨合金（Mo 70 wt.%和W 30 wt.%）作为样品，将其加热至20至410℃的不同温度。
3：实验设备与材料清单：
Nd:YAG激光器（Lapa-80，Beamtech）、二向色镜（DMSP950，Thorlabs；DMLP 567，Thorlabs）、激光功率计（842-PE，Newport）、配备ICCD的阶梯光栅光谱仪（iStar DH334T，Andor）、扫描电子显微镜（Quanta 450，FEI）、白光干涉仪（New View 6 K，Zygo Corporation）。
4：实验步骤与操作流程：
将激光聚焦于样品表面，采集发射光谱，改变样品温度并研究其对等离子体发射的影响。
5：数据分析方法：
通过分析谱线强度确定等离子体温度和电子密度，利用扫描电子显微镜和白光干涉仪观察表面形貌及坑洞轮廓。
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Dichroic mirror
DMSP950
Thorlabs
Directing the laser beam normal to the sample surface.
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Dichroic mirror
DMLP 567
Thorlabs
Detecting the spectral emission of the laser-induced plasma.
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Echelle spectrograph with ICCD
iStar DH334T
Andor
Detecting and analyzing the spectral emission of the plasma.
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SEM
Quanta 450
FEI
Examining the irradiated samples for surface morphology and elemental analysis.
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White-light interferometry
New View 6 K
Zygo Corporation
Measuring the crater profiles.
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Nd:YAG laser
Lapa-80
Beamtech
Ablation source for creating plasma on the sample surface.
暂无现货
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Laser power meter
842-PE
Newport
Measuring the pulse energy after the focusing lens.
暂无现货
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