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真空紫外激光诱导击穿光谱技术用于检测热老化变压器绝缘材料中的硫元素

DOI：10.1016/j.sab.2019.105730 期刊：Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy 出版年份：2019 更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要： 采用空间分辨和时间积分的真空紫外激光诱导击穿光谱技术(VUV LIBS)对高压变压器中热老化油浸纸板(OIP)绝缘材料的污染物进行了分析。通过检测铜和硫的发射谱线，获得了硫化铜污染的特征信号。等离子体发射中还包含高度电离的氧和碳发射谱线。与紫外-可见光区域相比，硫在真空紫外区域的发射强度较高。研究发现，随着OIP材料老化时间的延长，硫的浓度呈上升趋势。
作者： N. Aparna，M. B. Alli，P. Hayden，N. J. Vasa，R. Sarathi，J.T. Costello
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

研究采用真空紫外激光诱导击穿光谱技术（VUV LIBS）检测热老化变压器绝缘材料中的硫元素。

研究成果

研究发现，真空紫外激光诱导击穿光谱（VUV LIBS）适用于分析老化油浸纸绝缘材料中的硫污染物。采用环境氦气可约束LIBS等离子体并增强硫发射谱线强度。硫污染物发射谱线强度随油浸纸材料老化时间延长而增加，表明测得的硫污染物浓度与VUV LIBS强度比之间存在线性关系。

研究不足

在真空环境中，硫发射线的强度较低，需要使用氦气进行约束以提高信号强度。该技术需要对前狭缝位置、激光功率和散焦等参数进行优化，以实现有效检测。

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