研究目的
通过在硅基氮化镓LED外延片中进行精确的应变工程,展示微间距LED应用中具有良好应变控制的优异发光均匀性,旨在降低成本并提高良率。
研究成果
该研究通过精确的应变工程,在200毫米硅基氮化镓LED外延晶圆上成功实现了卓越且可重复的发光均匀性,同时达到了所有与生产相关的规格参数。这一突破为显著降低成本和实现微LED供应链中的高良率制造铺平了道路。
研究不足
该研究承认,通过精密的基座设计和更高精度的加工工艺,排放均匀性有望得到进一步改善。由于温度测量精度问题导致的实际温度与测量温度之间的偏差表明,在重现性方面仍有改进空间。
1:实验设计与方法选择:
该研究使用Veeco Propel单晶圆MOCVD反应器,在直径200毫米的Si(111)衬底上生长GaN蓝光LED结构。采用ALLOS专有的含多层中间层的缓冲层生长技术,成功制备出无裂纹的6.5微米厚GaN层。
2:5微米厚GaN层。
样品选择与数据来源:
2. 样品选择与数据来源:样品为硅基氮化镓LED外延晶圆。通过光致发光(PL)成像和曲率测量收集数据。
3:实验设备与材料清单:
Veeco Propel单晶圆MOCVD反应器、硅基氮化镓LED外延晶圆。
4:实验流程与操作步骤:
该工艺包括外延生长过程中的精确应变工程控制、多量子阱生长阶段的晶圆翘曲形态调控以及可重复性验证。
5:数据分析方法:
根据PL成像数据分析发射波长的均匀性及其标准偏差。
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