研究目的
利用共振光电子能谱在Co和Mn 2p芯能级吸收边处测定半金属Co2MnGe的元素特异性态密度(DOS),并理解费米能级(EF)附近的电子态以指导未来磁隧道结的界面设计。
研究成果
该研究阐明了Mn 3d电子对Co2MnGe费米能级附近态的重要贡献,其中t2g对称性主导了电导率。根据主要正常俄歇贡献表明,Co 3d态比Mn 3d态表现出更强的离域特性。这些发现将有助于未来磁隧道结的界面设计,以克服温度引起的磁电阻降低问题。
研究不足
该研究的局限性在于反光电子能谱(RPES)的表面敏感性,以及与铝覆盖层界面处存在部分氧化的锰,这可能影响费米能级附近态密度的准确性。此外,在钴2p吸收边处正常俄歇过程占主导地位,使得通过光谱差分提取钴局域态密度较为困难。
1:实验设计与方法选择:
在Co和Mn的2p芯能级吸收边进行共振光电子能谱(RPES)测量以确定元素特异性态密度(DOS)。实验在SPring-8的BL25SU软X射线光束线站进行,能量分辨率为80 meV。X射线吸收光谱(XAS)实验在SPring-8的BL23SU采用总电子产额法进行。所有测量均在约40 K下完成。
2:样品选择与数据来源:
采用磁控溅射法在MgO衬底上制备了30 nm厚的Co2MnGe薄膜,衬底包含Cr(10 nm)和Ag(100 nm)缓冲层,并覆盖1 nm Al层以防止氧化。
3:实验设备与材料清单:
RPES实验使用SPring-8的软X射线同步辐射光源。通过X射线衍射和X射线荧光测量对薄膜进行表征以确认L21有序相。
4:实验流程与操作步骤:
价带光谱通过Ge 3d5/2和3d3/2光电子强度之和进行归一化处理。差分光谱由共振光谱减去非共振光谱获得。
5:数据分析方法:
将获得的价带光谱与采用WIEN2K程序进行第一性原理计算得到的理论分波态密度(PDOS)进行对比,计算时考虑了光电离截面、能量分辨及能量偏移因素。
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