研究目的
研究辐射对半导体激光器的影响，并基于退化机制和粒子滤波器开发预测其剩余使用寿命（RUL）的方法。
研究成果
所提出的基于粒子滤波的预测方法有效结合了退化机制与粒子滤波器来预测半导体激光器的剩余使用寿命，相比支持向量机等其它方法展现出更高的准确性。该方法无需采集失效数据且忽略失效机理，因而更能反映实际情况。
研究不足
该研究受成本限制，仅能进行8次ADT运行。预测精度高度依赖于初始预测点的选择。
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[2019年IEEE国际通信、信息系统与计算机工程会议（CISCE）- 中国?？冢?019年7月5日-7月7日）] 2019年国际通信、信息系统与计算机工程会议（CISCE）- 基于辐射诱导模型与粒子滤波法的半导体激光器剩余使用寿命预测
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[2019年IEEE国际通信、信息系统与计算机工程会议（CISCE）- 中国?？冢?019年7月5日-7月7日）] 2019年国际通信、信息系统与计算机工程会议（CISCE）- 基于辐射诱导模型与粒子滤波法的半导体激光器剩余使用寿命预测
DOI：10.1109/cisce.2019.00061
出版年份：2019
更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要：
导致空间任务实验中半导体激光器性能退化的主要因素，是辐射在探测器材料中引入的晶格缺陷。为此提出一种考虑辐射效应的剩余使用寿命（RUL）预测新方法。该预测方法基于失效机理与粒子滤波器，实现了物理模型与数据驱动方法的结合。粒子滤波器能充分利用退化数据并避免忽略失效机理。为有效评估所提预测方法，采用质子辐射作为加速应力进行加速退化试验（ADT）。通过与其他方法的预测结果对比，验证了所提预测方法的准确性与有效性。
作者：
Wenbo Wu，Liangzhi Men，Dequan Yu，Yang Wang，Hongyong Fu，Lu Zhang
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