研究目的
开发用于高功率激光透射式测量的测量仪器。
研究成果
所提出的MI是一种直通式装置,能显著降低测量所用激光辐射的比例,并可在加工过程中直接控制激光输出功率。根据所选板材与覆层材料、板材面积、板材通过光束截面的时间,以及辐射在积分球和光电二极管中的衰减情况,可获得反射光学信号,从而使用尺寸小巧的装置测量高辐射功率水平,且不改变激光束参数。
研究不足
第二组大功率微波器件的已知设计方案实施时,所述衰减器会扭曲强度的空间分布,从而降低输出光束的质量。
研究目的
开发用于高功率激光透射式测量的测量仪器。
研究成果
所提出的MI是一种直通式装置,能显著降低测量所用激光辐射的比例,并可在加工过程中直接控制激光输出功率。根据所选板材与覆层材料、板材面积、板材通过光束截面的时间,以及辐射在积分球和光电二极管中的衰减情况,可获得反射光学信号,从而使用尺寸小巧的装置测量高辐射功率水平,且不改变激光束参数。
研究不足
第二组大功率微波器件的已知设计方案实施时,所述衰减器会扭曲强度的空间分布,从而降低输出光束的质量。
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