研究目的
通过应变调控研究GaMnAs纳米结构中磁各向异性(MA)和各向异性磁电阻(AMR)的改性,利用反?;舳в?AHE)和平面霍尔效应(PHE)进行测量。
研究成果
研究表明,机械应变能有效调控GaMnAs纳米结构中的磁各向异性,从而改变反常霍尔效应和面内霍尔效应响应。该发现为低功耗自旋电子器件和机械存储元件提供了潜在应用前景。
研究不足
该研究的局限性在于GaMnAs结构对制备过程中产生的应变较为敏感,且机械屈曲具有非线性特性,这可能影响实验的可重复性。此外,观察到显著效应的温度范围受到材料铁磁有序温度的限制。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用纳米加工的GaMnAs霍尔条结构来探究应变对磁性能的影响。技术手段包括在不同应变条件下进行各向异性霍尔效应(AHE)和平面霍尔效应(PHE)测量。
2:样本选择与数据来源:
GaMnAs样品通过低温分子束外延(LT-MBE)生长,并利用电子束光刻技术加工成霍尔条结构。
3:实验设备与材料清单:
设备包括非接触式光学轮廓仪(NANO View-E1000)、闭循环磁冷冻机(IceOxford DRYICE4 TL)以及标准交流锁相放大器技术装置。
4:0)、闭循环磁冷冻机(IceOxford DRYICE4 TL)以及标准交流锁相放大器技术装置。
实验流程与操作步骤:
4. 实验流程与操作步骤:制备过程涉及GaMnAs结构图形化、采用柠檬酸/过氧化氢腐蚀定义霍尔条、沉积金属电极,以及选择性蚀刻AlGaAs层以悬空结构。在不同温度和磁场条件下进行磁输运测量。
5:数据分析方法:
通过Stoner-Wohlfarth模型拟合平面霍尔电阻率的角度依赖性来量化磁各向异性场。
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