研究目的
研究覆盖层对太赫兹时域光谱法测定石墨烯电导率的影响，并提出一种扩展测定方法以消除因忽略这些覆盖层而产生的误差。
研究成果
扩展薄膜近似法通过将覆盖层纳入计算，减少了误差并提高了石墨烯电导率测定的可靠性，从而提升了化学掺杂、弛豫时间、载流子迁移率和载流子密度等衍生材料属性的计算精度。
研究不足
该研究聚焦于聚甲基丙烯酸甲酯覆盖层对石墨烯电导率测定的影响，且所提方法的准确性可能取决于覆盖层厚度的精确测定。
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[IEEE 2019年第44届国际红外、毫米波及太赫兹波会议（IRMMW-THz） - 法国巴黎（2019.9.1-2019.9.6）] 2019年第44届国际红外、毫米波及太赫兹波会议（IRMMW-THz） - 基于太赫兹时域光谱测量确定石墨烯电导率时覆盖层的影响
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[IEEE 2019年第44届国际红外、毫米波及太赫兹波会议（IRMMW-THz） - 法国巴黎（2019.9.1-2019.9.6）] 2019年第44届国际红外、毫米波及太赫兹波会议（IRMMW-THz） - 基于太赫兹时域光谱测量确定石墨烯电导率时覆盖层的影响
DOI：10.1109/irmmw-thz.2019.8873750
出版年份：2019
更新时间：2025-09-16 10:30:52
摘要：
我们研究了覆盖层对太赫兹时域光谱法测量石墨烯电导率的影响，特别关注了在测定过程中忽略这些覆盖层所导致的常见误差。为消除这些误差，我们引入了一种基于经典薄膜理论的扩展测定方法。
作者：
D. Stock，C. Suessmeier，P. Haring Bolívar
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