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[IEEE第34届微电子技术与器件研讨会(SBMicro) - 巴西圣保罗(2019年8月26日-8月30日)] 2019年第34届微电子技术与器件研讨会(SBMicro) - 利用基座波导分析测量SiO<sub>x</sub>N<sub>y</sub>的非线性折射率

DOI:10.1109/SBMicro.2019.8919392 出版年份:2019 更新时间:2025-09-19 17:13:59
摘要: 多年来,媒体上关于数据泄露事件的报道层出不穷。为应对这一威胁,各组织采用企业内容感知型数据防泄漏(DLP)解决方案来监控和控制数据的访问与使用。但本文认为现有方案无法可靠?;ば畔⒆什6?014年报告的数据泄露事件分析显示,大量数据泄漏事件并不在DLP解决方案的关注范围内。此外,这些分析表明当前提供的数据泄露记录分类标准不足以支撑深入调查。因此,研究引入了表征数据泄漏事件的进阶标准,并扩展了报告记录范围。最终分析表明:要降低技术性数据泄露风险,DLP和信息泄漏防护(ILP)需要建立多种信息安全(IS)措施。同时,DLP和ILP措施的有效性显著受到非技术因素(如人为因素)的影响。为此,本文提出了在信息安全范畴内构建DLP和ILP体系的实施概念。
作者: Barbara Hauer
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研究概述 实验方案

研究当前数据防泄漏(DLP)解决方案的有效性,并提出用于表征数据泄漏事件的高级标准,以加强信息安全措施。

研究得出结论:当前的数据防泄漏(DLP)解决方案不足以可靠保护信息资产,必须采取包括考虑人为因素在内的各类信息安全(IS)措施来降低数据泄露风险。该研究提出了在信息安全范畴内建立DLP与信息生命周期?;ぃ↖LP)的概念框架。

该研究的局限性在于数据泄露记录的质量和完整性,由于缺乏报告义务,这些记录可能未包含所有事件。此外,所提出的标准依赖于对受影响数据的假设。

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