研究目的
研究利用频率偏移锁定半导体激光器的外差干涉测量法,对超高频微机电滤波器中的振动进行高灵敏度、非接触式测量。
研究成果
研究表明,采用频偏锁定半导体激光器的外差干涉测量法可实现超高频率下的高分辨率振动测量,适用于微机电滤波器测试。所提出的综合模型能准确预测振动振幅分辨率,并通过实验数据验证。研究还提供了优化外差载波生成及最小化差分相位噪声的设计建议。
研究不足
激光多普勒测速仪(LDV)系统的带宽受限于光电探测器的带宽。该研究还指出,由于半导体激光器具有较宽的激光线宽,在数吉赫兹频率下实现散粒噪声限制检测存在挑战。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用激光多普勒测振仪(LDV)装置,通过两台半导体激光器的偏移锁定实现外差干涉。方法学包含振动振幅分辨率的理论模型,综合考虑了激光线宽、光学相位锁定环(OPLL)传递函数及干涉仪延迟等因素。
2:样本选择与数据来源:
实验对34.01 MHz激励下的声表面波(SAW)滤波器进行振动测量,数据通过光电探测器采集。
3:01 MHz激励下的声表面波(SAW)滤波器进行振动测量,数据通过光电探测器采集。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:该装置包含两台半导体激光器、光电探测器及用于频率偏移锁定的光电相位锁定环(OPLL)。
4:实验流程与操作步骤:
流程包括产生高达1.4 GHz的外差载波、测量振动信号,并分析光电流信号以确定振动振幅分辨率。
5:4 GHz的外差载波、测量振动信号,并分析光电流信号以确定振动振幅分辨率。
数据分析方法:
5. 数据分析方法:分析内容包括评估信噪比(SNR)和等效噪声振动振幅,并与模型预测值进行对比。
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