研究目的
研究聚电解质对不同层状结构中PEDOT:PSS电导率的影响。
研究成果
在PDADMAC存在下，PEDOT:PSS的电导率因通过PEDOT-PEDOT链形成渗流通路而显著提升。PED*PDA薄膜的电导率几乎与厚度无关，而PDA/PED薄膜的电导率在达到两层时增加，随后下降。该研究揭示了导电聚合物电导率增强机制的奥秘。
研究不足
该研究仅限于PDADMAC对PEDOT:PSS导电性的影响，未探讨其他聚电解质或条件。PED*PDA薄膜导电性与厚度无关的特性表明其在某些应用中可能存在规?；拗?。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用旋涂法制备PEDOT:PSS与PDADMAC复合物薄膜（PED*PDA）及双层结构单元（PDA/PED），并测量这些薄膜的面内电导率，与原始PEDOT:PSS薄膜进行对比。
2：样品选择与数据来源：
PEDOT:PSS和PDADMAC购自Sigma公司。薄膜制备在玻璃、石英和Si(001)基底上进行。
3：实验设备与材料清单：
旋涂机（spin NXG-P2 APEX）、用于电导率测量的Keithley 2635B源表、紫外-可见吸收分光光度计（岛津UV-1800）、原子力显微镜（NTEGRA Prima，NT-MDT技术）、X射线衍射仪（D8 Advanced，布鲁克AXS）、衰减全反射傅里叶变换红外光谱仪（NICOLET 6700，赛默飞世尔）。
4：0）、原子力显微镜（NTEGRA Prima，NT-MDT技术）、X射线衍射仪（D8 Advanced，布鲁克AXS）、衰减全反射傅里叶变换红外光谱仪（NICOLET 6700，赛默飞世尔）。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：通过1000转/分钟的旋涂制备薄膜。采用四探针范德堡法测量电导率。通过紫外-可见吸收、原子力显微镜、XRD和FTIR测量分析薄膜特性。
5：数据分析方法：
使用公式σ = (2ln/πd)(I/V)计算电导率。XRR数据采用Parratt形式理论分析。通过原子力显微镜图像分析表面粗糙度和薄膜厚度。
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获取完整内容-
Keithley 2635B Source Meter
2635B
Keithley
Measuring in-plane electrical conductivity
-
UV-Vis absorption spectrophotometer
UV-1800
Shimadzu
Measuring UV-Vis absorption spectra
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ATR-FTIR spectroscopy
NICOLET 6700
Thermo Fisher
Measuring conformational study of PEDOT:PSS in presence of PDADMAC
-
Atomic force microscope
NTEGRA Prima
NT-MDT technology
Measuring in-plane surface morphologies and film thicknesses
-
X-ray diffractometer
D8 Advanced
Bruker AXS
Analyzing the crystalline pattern of the samples and the out-of-plane structures
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