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石墨烯在Cu(111)表面优先成核于CuO缺陷而非Cu2O:密度泛函理论计算与实验的结合

DOI:10.1021/acsami.8b13626 期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 出版年份:2018 更新时间:2025-09-23 15:21:21
摘要: 众所周知,降低成核密度是提升石墨烯生长质量的有效途径。本研究采用密度泛函理论(DFT)结合弹性能带法(NEB),探究了Cu(111)基底上CuO缺陷周围石墨烯的成核与生长机制,并分析了初始成核阶段的缺陷形成机理。通过计算碳原子吸附能及碳-碳二聚体形成的反应能垒表明:人工引入CuO缺陷可促进石墨烯在Cu(111)表面的初始成核,从而抑制洁净Cu(111)基底上的成核过程。该结论已通过化学气相沉积(CVD)法制备石墨烯的实验得到验证。进一步研究发现,在CuO"晶种"周围生长的石墨烯能保持结构完整性且不会显著产生缺陷碳环。本研究为通过人工引入CuO晶种可控制备大尺寸高质量石墨烯提供了理论基础与指导依据。
作者: Xiucai Sun,Zhen Su,Jing Zhang,Xizheng Liu,Yanlu Li,Fapeng Yu,Xiufeng Cheng,Xian Zhao
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研究概述 实验方案 设备清单

探索石墨烯在Cu(111)基底上CuO缺陷周围成核与生长的机制,并研究初始成核阶段的缺陷形成机理。

引入CuO缺陷可以促进石墨烯在CuO周围初始成核,并抑制其在洁净的Cu(111)基底上成核。石墨烯倾向于以CuO"籽晶"为中心成核和生长,这验证了计算结果。台阶结构不会导致缺陷石墨烯的显著形成。

该研究聚焦于具有CuO和Cu2O缺陷的Cu(111)基底上石墨烯的成核机制,以及初始成核阶段完美与缺陷石墨烯环之间的转化反应。实验的技术和应用限制以及潜在的优化领域未明确提及。

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