研究目的
提出一种基于白光干涉测量中次暗场照明的快速成像方法,用于解析包括具有几埃量级粗糙度的光滑表面在内的被测结构表面形貌。
研究成果
提出了一种基于SDFI的快速成像方法,能够获取粗糙度在纳米甚至埃量级测试表面的FDI和表面三维形貌。该方法为静态技术,无需扫描即可提供真彩色图像。
研究不足
被测表面不应过于粗糙;光程差应小于3/4波长。当表面粗糙度过高时,精度会受到限制。
研究目的
提出一种基于白光干涉测量中次暗场照明的快速成像方法,用于解析包括具有几埃量级粗糙度的光滑表面在内的被测结构表面形貌。
研究成果
提出了一种基于SDFI的快速成像方法,能够获取粗糙度在纳米甚至埃量级测试表面的FDI和表面三维形貌。该方法为静态技术,无需扫描即可提供真彩色图像。
研究不足
被测表面不应过于粗糙;光程差应小于3/4波长。当表面粗糙度过高时,精度会受到限制。
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