研究目的
研究采用溶胶-凝胶法在不同烧结温度下合成的Ni0.6Cd0.2Cu0.2Fe2O4铁氧体的结构、红外、磁性和电学性能。
研究成果
该研究成功合成了具有立方尖晶石结构的Ni0.6Cd0.2Cu0.2Fe2O4铁氧体。提高烧结温度可改善晶格常数、晶粒尺寸、磁化强度和导电性。介电性能随频率升高而降低，导电主要源于晶界效应。该材料在高频应用中展现出良好前景。
研究不足
该研究仅限于特定烧结温度下Ni0.6Cd0.2Cu0.2Fe2O4铁氧体的特性表征。阻抗谱的频率范围限制在100 Hz–1 MHz，可能无法捕捉所有晶粒的贡献。
1：实验设计与方法选择：
采用溶胶-凝胶法制备Ni0.6Cd0.2Cu0.2Fe2O4铁氧体，样品在不同温度（900°C、1000°C、1100°C和1200°C）下烧结。
2：6Cd2Cu2Fe2O4铁氧体，样品在不同温度（900°C、1000°C、1100°C和1200°C）下烧结。 样品选择与数据来源：
2. 样品选择与数据来源：以化学计量比的金属硝酸盐为前驱体，通过SEM、XRD、FTIR、VSM和阻抗谱对样品进行表征。
3：实验设备与材料清单：
Philips XL30扫描电镜、Panalytical X’Pert Pro X射线衍射仪、岛津FTIR-8400S红外光谱仪、振动样品磁强计(VSM)、N4L-NumeriQ PSM1735阻抗分析仪。
4：实验步骤与操作流程：
合成过程包括金属硝酸盐与柠檬酸混合、干燥、研磨及指定温度烧结，表征均在室温下进行。
5：数据分析方法：
XRD数据采用FullProf软件进行Rietveld精修；导电性和介电性能分别通过Jonscher幂律和麦克斯韦界面极化理论建模分析。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
X-ray diffractometer
Panalytical X’Pert Pro
Panalytical
Recording X-ray diffraction pattern analysis
-
FTIR Spectrophotometer
Shimadzu FTIR-8400S
Shimadzu
Performing FTIR spectra
-
SEM
Philips XL30
Philips
Analyzing free surface morphologies of samples
-
VSM
Obtaining hysteresis loops
-
Impedance analyzer
N4L-NumeriQ PSM1735
N4L-NumeriQ
Evaluating frequency dependences of dielectric measurements
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部
