研究目的
为SO/PHI星载太阳成像仪器定制电压可调谐标准具,确保在6175.0埃的FeI发射线0.3埃范围内达到透射峰值,且60毫米孔径范围内的整体厚度公差控制在±15纳米以内。
研究成果
该技术能够精确控制标准具的绝对厚度和均匀性,使透射峰位置可控制在目标波长0.3埃范围内。此方法适用于其他需要精密调节厚度的光学元件。
研究不足
该技术受限于抛光和镀膜工艺的精度以及波长测量的准确性。标准具透射峰值的温度依赖性也带来了限制。
研究目的
为SO/PHI星载太阳成像仪器定制电压可调谐标准具,确保在6175.0埃的FeI发射线0.3埃范围内达到透射峰值,且60毫米孔径范围内的整体厚度公差控制在±15纳米以内。
研究成果
该技术能够精确控制标准具的绝对厚度和均匀性,使透射峰位置可控制在目标波长0.3埃范围内。此方法适用于其他需要精密调节厚度的光学元件。
研究不足
该技术受限于抛光和镀膜工艺的精度以及波长测量的准确性。标准具透射峰值的温度依赖性也带来了限制。
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