研究目的
确定在AMD早期阶段,微视野计测量的黄昏视觉功能纵向变化是否独立于其与频域光学相干断层扫描(SD-OCT)微结构参数的关联而发生。
研究成果
在12个月的时间范围内,暗视微视野敏感度的纵向变化似乎与每次随访时高频斑点数量及视网膜色素上皮脱离层厚度的变化相平行,这表明通过微视野计捕捉到的暗视视觉功能的纵向变化并非独立于其与微观结构参数变化的关联而单独发生。
研究不足
该研究的局限性包括:在定义高反射灶(HF)时依赖硬性阈值;由于谱域光学相干断层扫描(SD-OCT)成像技术的特性,无法量化眼内所有色素沉着变化;以及样本量有限和随访时间较短。
1:实验设计与方法选择:
研究在12个月内每6个月进行一次微视野检查和SD-OCT扫描,以分析微结构参数。
2:样本选择与数据来源:
纳入41只AMD患眼,具有特定的纳入和排除标准。
3:实验设备与材料清单:
使用Macular Integrity Assessment(MAIA)微视野计和Spectralis HRA+OCT设备。
4:实验流程与操作步骤:
参与者接受微视野检查和SD-OCT扫描,数据采用随机系数模型进行分析。
5:数据分析方法:
通过统计分析研究微结构参数与微视野敏感度之间的关联。
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